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杭州明凱科技有限公司

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[供應(yīng)]耐馳 LFA467 HT 激光導(dǎo)熱系數(shù)測量儀

貨物所在地：浙江杭州市

產(chǎn)地：德國

更新時間：2025-01-23 15:27:48

有效期：2025年1月23日 -- 2025年7月26日

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新款高溫型閃射法導(dǎo)熱儀 LFA 467 HT HyperFlash® 使用創(chuàng)新的氙燈光源系統(tǒng)，配備四樣品位的自動進樣器，智能透鏡系統(tǒng) ZoomOptics，擁有超高的數(shù)據(jù)采集速率與靈活可調(diào)的脈沖寬度，可在室溫~1250°C的寬廣溫度范圍內(nèi)進行精確的熱擴散系數(shù)與導(dǎo)熱系數(shù)測量。真空密閉，保證氣氛純凈，防止樣品氧化。通過四樣品位+四組獨立熱電偶的設(shè)計，提高測樣效率與測溫準(zhǔn)確性。體積小巧，高度集成化。

LFA 467 HT HyperFlash

 

精確的熱擴散系數(shù)與導(dǎo)熱系數(shù)測試，覆蓋 RT...1250°C 的寬廣溫度范圍

耐馳公司新款閃射法導(dǎo)熱儀 LFA 467 HyperFlash® 基于成熟的 LFA 467 HyperFlash® 平臺構(gòu)建，可在室溫...1250°C之間進行精確的熱擴散系數(shù)與導(dǎo)熱系數(shù)測量。儀器使用創(chuàng)新的氙燈光源系統(tǒng)，擁有超長的光源壽命，在寬廣的溫度范圍內(nèi)提供了精確的導(dǎo)熱測量，基本無耗材。

ZoomOptics - 優(yōu)化檢測范圍，獲取精確的測量結(jié)果

ZoomOptics 系統(tǒng)（zhuanli號：DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03）優(yōu)化了檢測器的檢測范圍，消除了樣品外緣的干擾信號，可大大提高測量結(jié)果的準(zhǔn)確度。

超高的數(shù)據(jù)采集速率（ 2MHz），極窄的光脈沖寬度（小 20μs 以下），允許測量薄的高導(dǎo)熱的材料

LFA 467 HyperFlash® 系列產(chǎn)品的數(shù)據(jù)采集速率提升到了 2 MHz。這一超高的數(shù)據(jù)采集速率同時體現(xiàn)在紅外檢測器，以及 pulse mapping 通道上。由此，可以有效地測試傳熱時間非常短的高導(dǎo)熱薄層材料，如厚度 0.3mm 左右的金屬薄片，或厚度 30μm 左右的聚合物薄膜。

zhuanli的 pulse mapping 系統(tǒng)將有限脈沖寬度效應(yīng)、以及熱損耗納入計算（號碼：US7038209 B2; US20040079886; DE1024241）。

  

真空密閉，保證氣氛純凈，防止樣品氧化

儀器內(nèi)置全自動真空系統(tǒng)，在測量開始之前可進行自動抽真空與氣氛置換操作，保證了氣氛的純凈性。儀器另有擴展的真空接口，可連接到外部真空泵。鉑爐為真空密閉設(shè)計，升溫速率可達(dá) 50K/min。

通過四樣品位+四組獨立熱電偶的設(shè)計，提高測樣效率與測溫準(zhǔn)確性

儀器通過自動進樣器（ASC），實現(xiàn)了在寬廣溫度范圍內(nèi)的高效測試。ASC 包含四個樣品位，可裝載直徑 12.7mm 的圓形樣品，或 10mm 規(guī)格的圓形或方形樣品。每個樣品位都擁有獨立的熱電偶。這一設(shè)計極大地縮小了樣品與測溫點之間的溫度偏差。

體積小巧，高度集成化

LFA 467 HT HyperFlash® 是基于氙燈光源而能達(dá)到 1250°C 高溫的 LFA 系統(tǒng)。儀器配備單一的爐體，帶內(nèi)置的自動進樣器，在保持 LFA 467 HyperFlash® 一貫的小巧體積的同時，覆蓋了寬廣的溫度范圍。即使在較高的溫度下，有效的內(nèi)部循環(huán)水冷系統(tǒng)仍能保證周圍部件的溫度處于安全范圍之內(nèi)，由此減少了紅外檢測器的液氮消耗量。

LFA 467 HT HyperFlash® - 技術(shù)參數(shù)

  • 溫度范圍：RT ... > 1250°C，單一爐體
  • 大升溫速率：50 K/min
  • 紅外檢測器：InSb（RT ... >1250°C，可配備液氮自動充填設(shè)備）
  • 數(shù)據(jù)采集速率：大 2 MHz（同時適用于紅外檢測器與 pulse mapping 通道）
  • 熱擴散系數(shù)范圍：0.01 mm2/s ... 2000 mm2/s
  • 導(dǎo)熱系數(shù)：< 0.1 W/(m*K) ... 4000 W/(m*K)
  •  pulse mapping 技術(shù)：用于有限脈沖修正，以及提高比熱測量精度
  • 氣氛：惰性，氧化性，靜態(tài)與動態(tài)
  • 真空：10-4 mbar
  • 樣品支架：適合圓形與方形樣品
  • 氣氛控制：MFC 與 AutoVac

LFA 467 HT HyperFlash® 結(jié)構(gòu)示意圖
使用閃光源加熱樣品的下表面，使用紅外檢測器檢測樣品上表面的溫度上升過程

 

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