檢測限 (LOD, Limit of Detection) 是指分析方法能夠可靠檢測到的最小物質濃度或數(shù)量，代表著方法的靈敏度。對于藥物遞送和納米載藥系統(tǒng)，準確報告LOD不僅幫助確定檢測方法的準確性和可重復性，還關系到低濃度顆粒的檢測、監(jiān)管合規(guī)性（進行藥品申報或質量控制時，監(jiān)管機構如FDA、EMA等通常要求詳細報告顆粒表征方法的LOD）、方法驗證，以及科研成果的可信度。

電阻脈沖感應（RPS) 方法可以表示確定的LOD

電阻脈沖感應（RPS，Resistive Pulse Sensing）方法在納米顆粒的粒徑和濃度表征中均可以給出確定的LOD。RPS通過檢測單個顆粒通過微孔時引起的電阻變化來測量顆粒的尺寸和數(shù)量。因為它是單顆粒檢測方法，RPS在某些條件下可以提供非常低的檢測限，尤其適合檢測稀釋樣品中的低濃度顆粒。LOD通常與微孔或納米孔的大小和樣品中的噪聲水平相關聯(lián)。

依賴孔徑大?。?/p>

LOD通常與微孔的大小和樣品中的噪聲水平相關聯(lián)。較小的孔徑可以檢測到較小的顆粒，但同時也可能增加背景噪聲，從而影響LOD的準確性。

依賴噪聲水平：

樣品的電導性、孔道的表面特性以及背景電流的穩(wěn)定性都會影響檢測限。如果背景噪聲低，RPS可以檢測到非常小且低濃度的顆粒，從而實現(xiàn)較低的LOD。

一般來說，如果在RPS測試實驗中能夠對背景噪聲進行良好控制，并選擇合適的孔徑和測量條件，那么可以實現(xiàn)較低的LOD。這使得RPS技術在某些領域（如檢測稀釋的生物顆粒或納米顆粒）中具有顯著優(yōu)勢。

瑞芯智造NanoCoulter納米庫爾特粒度儀作為RPS技術應用，打破光學原理的局限性，經(jīng)過十余年微納加工技術沉淀，shou創(chuàng)光刻硅基固體納米孔芯片，將經(jīng)典庫爾特技術的粒徑檢測范圍從微米級下探至納米級。同時依賴高靈敏皮安級電流檢測和信號噪音的分析處理可精準降噪分析每個過孔顆粒，真正意義上的單顆粒檢測，可精確分析粒徑分布廣的多分散樣本，具備更寬的粒徑LOD (15-2000 nm) 和極寬的濃度LOD (10⁶-10¹² particles/mL)。