詳細(xì)介紹
菲希爾X-RAY XDV-SDD型X射線熒光測(cè)試儀
產(chǎn)品概況:
菲希爾X-RAY XDV-SDD型X射線熒光測(cè)試儀配備了感應(yīng)區(qū)域大而分辨率良好的硅漂移接收器,這樣在使用大準(zhǔn)直器的情況下,可以達(dá)到很高的計(jì)數(shù)率,從而實(shí)現(xiàn)良好的重復(fù)精度和極低的檢測(cè)下限。XDV-SDD極其適合痕量分析中超薄鍍層的測(cè)量。由于提高了低能輻射的靈敏度,同時(shí)可測(cè)元素的范圍也擴(kuò)大到更低原子序數(shù)的元素,這樣就可以可靠測(cè)量空氣中的磷或鋁。為了使每次測(cè)量都能在*激勵(lì)條件下進(jìn)行,XDV-SDD配備了可切換的準(zhǔn)直器和基本濾片。
菲希爾X-RAY XDV-SDD型X射線熒光測(cè)試儀測(cè)量空間寬大,樣品放置便捷,可以放置平整的樣品,也可以放置形狀復(fù)雜的大樣品。連續(xù)測(cè)試或鍍層厚度和元素分布的測(cè)量都可以方便地用快速可編程XY-工作臺(tái)完成。操作很人性化,測(cè)量門開啟方便,儀器前部控制面板具備多種功能,日常使用輕松便捷。
測(cè)量位置的精確設(shè)定可以很方便地通過高分辨率和高放大倍數(shù)的攝像頭完成,攝像頭可以在操作時(shí)精確顯示測(cè)量位置。激光點(diǎn)作為輔助定位裝置進(jìn)一步方便了樣品的快速定位。良好的性能和通用的設(shè)計(jì)使得XDV-SDD是研發(fā)、過程控制和實(shí)驗(yàn)室的理想選擇。同時(shí)基于其健壯設(shè)計(jì)和用戶友好,它也是*和生產(chǎn)監(jiān)控*的設(shè)備。
產(chǎn)品特征:
帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。zui高工作條件: 50 kV, 50W
X射線探測(cè)器采用珀?duì)柼吕涞墓杵铺綔y(cè)器
準(zhǔn)直器:4個(gè),可自動(dòng)切換,從直徑0.1mm到3mm
基本濾片:6個(gè),可自動(dòng)切換
帶彈出功能的可編程XY平臺(tái)
視頻攝像頭可用來實(shí)時(shí)查看測(cè)量位置,十字線上有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度標(biāo)尺,而測(cè)量點(diǎn)實(shí)際大小也在圖像中顯示。
設(shè)計(jì)獲得許可,防護(hù)全面,符合德國(guó)X射線條例第4章第3節(jié)
典型應(yīng)用領(lǐng)域:
測(cè)量超薄鍍層,例如電子和半導(dǎo)體行業(yè)
痕量分析,例如按照RoHS,玩具和包材指令檢測(cè)有害物質(zhì)
高精度黃金和貴金屬分析
光伏行業(yè)
測(cè)量NiP層的厚度和成分
應(yīng)用實(shí)例:
法律條例嚴(yán)格限制多種有害物質(zhì)的含量,例如電子元件,玩具或包裝材料。XDV-SDD使得快速方便地檢測(cè)是否符合這些限制成為可能。例如,測(cè)量檢出限僅僅幾個(gè)ppm的特別重要的化學(xué)元素Pb、Hg和Cd等。