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      在工業(yè)過程控制分析中,分析儀器的靈敏度、精度及分析速度是至關(guān)重要的。SPECTRO iQ II 在這一領(lǐng)域已建立了相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)。全新的SPECTRO iQ II 在此基礎(chǔ)上進(jìn)一步改進(jìn)了技術(shù),提高了操作簡便性和可靠性。

      在許多情況下,SPECTRO iQ II 在測定主要成分的精度及重要痕量元素的靈敏度可以同價(jià)格昂貴的波長色散型X熒光光譜儀相媲美。以往只能用波長色散型X熒光光譜儀完成的分析任務(wù),現(xiàn)在通過SPECTRO *的偏振能量色散型儀器即可出色地完成。

      SPECTRO iQ II 它采用低能量X射線管和開發(fā)的C-Force 偏振光學(xué)系統(tǒng),確保了對樣品中元素的*激發(fā)。使用Pd準(zhǔn)直器,SPECTRO iQ II 具有分析低含量Zr、Mo等元素的能力。在僅僅幾百秒的分析時(shí)間內(nèi),即可測定油中的超低硫含量。因此,開發(fā)出的SPECTRO iQ II 具有的分析輕元素的能力。

      SPECTRO iQ II 軟件的特點(diǎn):簡單明了。圖文式用戶操作界面,使日常操作所相關(guān)的重要功能清晰明確。觸屏操作,更為簡單直觀。

X射線熒光光譜法有如下特點(diǎn):

分析的元素范圍廣,從4Be到92U均可測定;

熒光X射線譜線簡單,相互干擾少,樣品不必分離,分析方法比較簡便;

分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測限可達(dá)ppm量級,輕元素稍差;

分析樣品不被破壞,分析快速,準(zhǔn)確,便于自動(dòng)化。

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