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x射線熒光光譜【深圳華普通用科技有限公司(簡稱華普通用)】XEPOS型偏振X射線熒光光譜儀可廣泛應(yīng)用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、（汞）等元素分析，檢出下限低，靈敏度高、穩(wěn)定性好，可應(yīng)對歐洲WEEE、RoHS指令。

臺式偏振X射線熒光光譜儀－SPECTRO XEPOS
德國斯派克分析儀器公司開發(fā)出了一種極其成功的技術(shù)，把偏振X射線應(yīng)用于熒光分析。正如現(xiàn)今在拍攝高質(zhì)量圖片時偏振濾光片是不可替代的工具一樣，這種*分析技術(shù)已成為實驗室測定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析儀器公司不斷發(fā)展這一技術(shù)，并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺式偏振X射線熒光光譜儀。

SPECTRO XEPOS內(nèi)部采用高性能部件，可獲得的靈敏度和準(zhǔn)確性。采用偏振次級靶以確保*激發(fā)，12位樣品自動交換器，預(yù)先安裝好的應(yīng)用軟件包和智能軟件模塊，使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。

SPECTRO XEPOS配有預(yù)先安裝好的應(yīng)用包，包括：在工廠預(yù)先校正好的各種硬件和分析方法。適合分析：土壤、污泥、油中添加劑、水泥、爐渣、耐火材料、電子元器件RoHS檢測等。

XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應(yīng)用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、（汞）等元素分析，檢出下限低，靈敏度高、穩(wěn)定性好，可應(yīng)對歐洲WEEE、RoHS指令。

偏振X射線熒光(XRF)光譜儀

能量色散X熒光光譜儀分析技術(shù)（ED-XRF）對測定材料的化學(xué)組分提供了zui簡便、zui準(zhǔn)確、的分析方法。它是非破壞性的、可靠的、無需（或很少）需樣品制備，非常適合固體、液體及粉末樣品的分析。它分析元素范圍非常廣泛，從11Na到92U,檢出限低于ppm;還可同時測量*濃度。

SPECTRO公司的X熒光產(chǎn)品種類繁多，從臺式光譜儀到多功能的實驗室直讀光譜儀，以及一系列在線分析儀----無論您提出何種分析要求，我們均能滿足。

SPECTRO公司公司在能量色散光譜儀制造方面居世界地位，近年來又進一步發(fā)展其技術(shù)，形成系列標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，并研究出許多能量色散X射線光譜分析新用途。

典型的應(yīng)用包括：分析油、燃料油、塑料、橡膠、紡織品、藥品、塑料、食品、化妝品、勞保用品、化肥、礦石、巖石、沙子、廢渣、水泥、耐熱材料、玻璃、陶瓷；測定紙張、膠片、聚酯、金屬表面的涂層；合金、玻璃與塑料的材料分選；監(jiān)控廢渣、廢水、清潔液、圬泥、及濾渣等。