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怎么測(cè)試電子元件的損壞

2022-9-21  閱讀(1030)

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在電路中也有身體強(qiáng)弱之分,電子元器件抵抗能力排行榜如下:

電阻、電感,電容、半導(dǎo)體器件(包括二極管、三極管、場(chǎng)管、集成電路),也就是說(shuō),在同樣的工作條件下,半導(dǎo)體器件損壞機(jī)率最大。

所以我們查找故障元件時(shí)要優(yōu)先檢查二極管、三極管、場(chǎng)管、集成電路等,一般半導(dǎo)體器件損壞時(shí)以擊穿為多見(jiàn),萬(wàn)用表二極管蜂鳴檔測(cè)這些器件的任意兩腳也應(yīng)有一個(gè)PN結(jié)的阻值500左右,若是蜂鳴八成是壞了,可拆下再測(cè)以確認(rèn)。

在電路中,工作在高電壓、大電流、大功率狀態(tài)下的元件無(wú)疑承受的壓力也大,損壞的可能性大,同時(shí)也是電路的關(guān)鍵元件、功能性元件。

凡在大電流的地方發(fā)熱就大(焦耳楞次定律——熱量與電流的平方成正比),所以凡是加有散熱片的元件都是易損件。大功率的電阻也是易損件。大功率的電阻怎么能看出來(lái)?和它的阻值無(wú)關(guān),只和它的體積有關(guān),體積越大,功率越大。在電路中,保險(xiǎn)絲、保險(xiǎn)電阻是最不保險(xiǎn)的元件,首先因?yàn)樗娜埸c(diǎn)低,容易斷,又因?yàn)樗潜e人的險(xiǎn),所以壞時(shí)先壞。

元件損壞的方式,有過(guò)壓損壞、過(guò)流損壞,當(dāng)然還有機(jī)械損壞。過(guò)壓損壞如雷擊,擊穿橋式整流管。過(guò)流損壞如顯示器行管熱擊穿。

常用電子元器件在外表看上去無(wú)異常時(shí)可以用數(shù)字萬(wàn)用表做一些簡(jiǎn)單的測(cè)試。

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電阻

這個(gè)很簡(jiǎn)單,測(cè)試阻值對(duì)不對(duì)。

二極管

用數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)試PN結(jié)的壓降,可與同型號(hào)的完好的二極管做對(duì)比。

三極管

不管是N管還是P管可以用數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)量測(cè)試兩個(gè)PN結(jié)是否正常。

場(chǎng)效應(yīng)管

測(cè)試場(chǎng)效應(yīng)管的體內(nèi)二極管的PN結(jié)是否正常,測(cè)試GD,GS是否有短路。

電容

無(wú)極性電容,擊穿短路或脫焊,漏電嚴(yán)重或電阻效應(yīng)。

電解電容的實(shí)效特性是:擊穿短路,漏電增大,容量變小或斷路。

電感

實(shí)效特性為:斷線(xiàn),脫焊

芯片

集成電路內(nèi)部結(jié)構(gòu)復(fù)雜,功能很多,任何一部分損壞都無(wú)法正常工作。集成電路的損壞也有兩種:*損壞、熱穩(wěn)定性不良。*損壞時(shí),可將其拆下,與正常同型號(hào)集成電路對(duì)比測(cè)其每一引腳對(duì)地的正、反向電阻,總能找到其中一只或幾只引腳阻值異常。對(duì)熱穩(wěn)定性差的,可以在設(shè)備工作時(shí),用*冷卻被懷疑的集成電路,如果故障發(fā)生時(shí)間推遲或不再發(fā)生故障,即可判定。通常只能更換新集成電路來(lái)排除。

無(wú)論是自然損耗所出現(xiàn)的故障,還是人為損壞所出現(xiàn)的故障,一般可歸結(jié)為電路接點(diǎn)開(kāi)路,電子元器件損壞和軟件故障三種故障。接點(diǎn)開(kāi)路,如果是導(dǎo)線(xiàn)的折斷,撥插件的斷開(kāi),接觸不良等,檢修起來(lái)一般比較容易。而電子元器件的損壞,(除明顯的燒壞,發(fā)熱外),一般很難憑觀察員發(fā)現(xiàn),在許多情況下,必須借助儀器才能檢測(cè)判斷,因此對(duì)于技術(shù)人員來(lái)說(shuō),首先必需了解各種器件實(shí)效的特點(diǎn),這對(duì)于檢修電路故障,提高檢修效率是極為重要的。


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