TSI 3082型靜電分級器簡介
高度可靠且用途廣泛
自1976年以來,TSI® 靜電分級器一直在幫助科學家發(fā)生和測量亞微米粒子。這些儀器被廣泛用于各種研究,并因其高度可靠和極其廣泛的用途而贏得了當之無愧的聲譽。我們新型的靜電分級器— 3082型—不但延續(xù)了這一傳統(tǒng),而且具有擴展的功能和易于使用的界面。當前的設計提供了免工具安裝和自動檢測可配置組件的功能。分級器控制平臺包括觸屏顯示器和圖形用戶界面控制,可進行粒徑分布測量,并具有數據存儲的功能,大大擴展了您研究的可能性!
TSI® 的靜電分級器篩分出高度單分散的亞微米氣溶膠,直徑范圍為 1-1,000nm。靜電分級器用作單分散氣溶膠發(fā)生系統(tǒng)或亞微米粒子分級系統(tǒng)的組成部分。
應用
3082 型靜電分級器是氣溶膠測量的“一級標準"儀器。這意味著它的性能基于基本的物理原理,且結果是高度可重復的。
3082 型靜電分級器可用于氣溶膠發(fā)生和氣溶膠粒徑分布測量。美國國家標準與技術研究院(NIST)使用TSI® 長DMA 差分靜電遷移分析儀來測量0.1微米標準參考材料的粒徑。
當用作氣溶膠發(fā)生器以產生高度單分散粒子時:
? 氣溶膠研究,包括粒子傳輸、擴散、凝聚、 核化和凝結的研究
? 粒子電荷和電遷移率研究
? 濾材的過濾效率測試
? 光學粒子計數器等粒子儀器的校準—通過去除殘余 粒子和多重態(tài)來增強聚苯乙烯膠乳球(PSL)或其他 氣溶膠的單分散性
當在 TSI® SMPS™ 粒徑譜儀中用于亞微米粒子的高分辨率粒徑測量時:
? 氣溶膠研究,包括核化和凝結研究
? 大氣監(jiān)測和氣候研究
? 納米技術研究與材料合成
? 燃燒和發(fā)動機排放研究
? 火焰、粉末、噴霧或其它來源產生的氣溶膠的表征
當單分散粒子生成與粒徑分布測量串聯(lián)使用時:
測量由于凝聚、蒸發(fā)、凝結、加濕和化學反應引起的粒子粒徑的變大和變小。
當與TSI® 氣溶膠靜電計3068B 型一起使用時:
凝聚核粒子計數器(ISO 27891)和其它氣溶膠儀器的初級粒徑和濃度校準。
雙重用途
氣溶膠發(fā)生和氣溶膠粒徑測量
從廣義上講,靜電分級器有兩類應用:單分散氣溶膠發(fā)生和亞微米氣溶膠粒徑分布測量。3082 型靜電分級器作為可選組件的操作平臺,選擇何種組件取決于客戶的應用。
3082型靜電分級器的第一個用途是作為亞微米粒子的單分散氣溶膠發(fā)生器。為了將分級器用作單分散氣溶膠發(fā)生器,用戶需安裝選定的差分靜電遷移分析儀(DMA)、氣溶膠中和器和進樣口撞擊式切割器;所有這些組件都由分級器控制和/或監(jiān)測。
3082 型分級器的第二個也是最常見的用途是在掃描電遷移粒徑譜儀(SMPS™)系統(tǒng)中。SMPS™ 系統(tǒng)測量氣溶膠的粒徑分布。在SMPS™系統(tǒng)中,從分級器出來的單分散氣溶膠通過凝聚核粒子計數器(CPC),測量粒子數量濃度。通過快速掃描選定的粒徑范圍(因配置而異),SMPS 可精確測量氣溶膠的粒徑分布。經驗證,TSI® SMPS 可準確測量NIST 可追溯粒子(Vasiliou,2004)。
3938 系列SMPS 能夠測量小至1 nm,大至1,000 nm 的粒子,具體取決于所使用的可配置組件。已安裝的組件可被自動檢測識別。對于大多數SMPS 配置,可以直接從3082 型分級器的前屏幕或通過軟件看到掃描結果。