海德漢直線光柵尺在發(fā)貨前全部會進行精度和功能檢驗。

精度檢定在兩個運動方向上執(zhí)行。精心選擇的測量位置數(shù)能確保準確確定大測量范圍誤差和單信號周期內(nèi)的位置誤差。

檢驗合格證是每個光柵尺或編碼器符合系統(tǒng)精度要求的證明。檢定標(biāo)準符合國家或*標(biāo)準要求，能確保滿足EN ISO9001的可追溯性要求。

海德漢LIP和PP系列光柵尺的檢定記錄圖還提供整個測量范圍的位置誤差。也提供測量參數(shù)和檢定測量的不確定性數(shù)據(jù)。

溫度范圍

檢定直線光柵尺時的標(biāo)準溫度為20 °C。

測量基準

海德漢公司的光學(xué)掃描海德漢光柵尺,海德漢編碼器的測量基準都是周期刻線-光柵。

這些光柵刻在玻璃或鋼材基體上。大長度測量用的光柵尺帶的基體為鋼帶。

海德漢公司用以下特別開發(fā)的光刻工藝制造精密光柵。

AURODUR：在鍍金鋼帶上蝕刻線條，典型柵距40 μm

METALLUR：抗污染的鍍金層金屬線，典型柵距20 μm

DIADUR：玻璃基體的超硬鉻線(典型柵距20 μm)或玻璃基體的三維鉻線格柵(典型柵距8 μm)

SUPRADUR相位光柵：光學(xué)三維平面格柵線條;*抗污能力;典型柵距不超過8 μm

OPTODUR相位光柵：光學(xué)三維平面格柵線條，超高反光性能，典型柵距不超過2 μm

這種方法除了能刻制柵距非常小的光柵外，而且刻制的光柵線條邊緣清晰、均勻。再加上光電掃描法，這些邊緣清晰的刻線是輸出高質(zhì)量信號的關(guān)鍵。

母版光柵采用海德漢公司定制的精密刻線機制造。

絕dui測量法

絕dui測量法是指編碼器通電時就立即提供位置值并隨時供后續(xù)信號處理電子電路讀取。無需移動軸執(zhí)行參考點回零操作。絕dui位置信息來自光柵碼盤，它由一系列絕dui碼組成。單獨的增量刻軌信號用于在細分后得到位置值，同時也生成供選用的增量信號(與接口類型有關(guān))。

增量測量法

增量測量法的光柵由周期性刻線組成。位置信息通過計算自某個設(shè)置的原點開始的增量數(shù)(測量步距數(shù))獲得。由于必須用絕dui參考點確定位置值，因此測量基準的光柵尺上還刻有一個參考點軌。參考點確定的光柵尺帶的絕dui位置值可以到一個信號周期。因此，必須通過掃描參考點建立絕dui基準點或確定上次選擇的原點。

差情況時，機床需要移動測量范圍上的較大部分。為加快和簡化“參考點回零”操作，許多海德漢光柵尺刻有距離編碼參考點，這些參考點彼此相距數(shù)學(xué)算法確定的距離。移過兩個相鄰參考點后(一般只需運動數(shù)毫米(見下表)，后續(xù)電子電路就能找到絕dui參考點位置。

凡型號后有字母“C”的編碼器為距離編碼參考點(例如LIP 581 C)

距離編碼參考點的絕dui參考點R位置用兩個參考點間信號周期數(shù)和以下公式計算：

P1 = (abs R–sgn R–1) x N/2 + (sgn R–sgn D) x (abs MRR/2)

和

R = 2 x MRR–N

其中：

P1 = 個移過的參考點位置，信號周期數(shù)

abs = 絕dui值

sgn = 代數(shù)符號(“+1”或“–1”)

MRR = 移過的兩個參考點間的信號周期數(shù)

N = 兩個固定參考點間的名義增量值，信號周期數(shù)(見下表)

D = 運動方向(+1或–1)。讀數(shù)頭向右運動(正確安裝時)等于+1