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技術(shù)文章

西門子雷達物位計在過程控制工業(yè)中的應(yīng)用

閱讀:1421          發(fā)布時間:2016-8-16

     摘要:西門子雷達物位計具有許多優(yōu)點,近年來應(yīng)用廣泛。本文簡單介紹了雷達物位計的工作原理及應(yīng)用的注意事項。
1.概述
       西門子雷達物位計進入市場,由于測量精度高、耐高溫高壓的能力強,以及采用非接觸的測量方式,成為過程控制工業(yè)罐區(qū)物位監(jiān)測的儀表,受到廣大技術(shù)人員的歡迎。
在公司的生產(chǎn)車間,物位作為重要的過程參數(shù)已成為判斷生產(chǎn)過程的效率、工作狀況及經(jīng)濟性能的重要指標(biāo),物位測量儀表在連續(xù)與離散控制系統(tǒng)中的作用日趨突出,業(yè)主對測量儀表的測量、穩(wěn)定可靠、多功能、智能化的要求也越來越高。雷達物位計是近年逐步在現(xiàn)場應(yīng)用的先進測量技術(shù)。在使用過程中也暴露出一些問題,主要是設(shè)計選型失誤。由于雷達物位計種類和品牌較多,如果在設(shè)計階段不能結(jié)合工礦條件選擇適宜的產(chǎn)品,就可能造成雷達物位計無法正常使用。
2.雷達物位計的測量原理與分類
2.1 測量原理
        西門子雷達物位計主要由雷達探測器(一次表)和雷達顯示儀(二次表)組成。雷達探測器主要由主體、連接法蘭和天線三部分組成。天線分為喇叭型和直接與波導(dǎo)管連接兩種形式。雷達顯示儀提供連接上位計算機的RS-485接口,可以傳遞物位等參數(shù)及報警信,亦可通過上位計算機對智能雷達顯示儀進行控制。
雷達探測器采用的是線性調(diào)頻連續(xù)波測距原理:天線發(fā)射的微波是頻率波線性調(diào)制的連續(xù)波,當(dāng)回波被天線接收到時,天線發(fā)射頻率已經(jīng)改變。根據(jù)回波與發(fā)射波的頻率差可以計算出物料面的距離。FMCW方式測量線路較復(fù)雜,從而測量度較高,同時干擾回波也較易去除,一般用于較的測量方案。雷達探測器的主體中包括微波信源、信處理部分。工作過程中,微波信源輸出一個波幅恒定的線性調(diào)頻的微波信,其產(chǎn)生的頻率輸出:發(fā)射頻率隨時間線性增加,增加的斜率為k,當(dāng)發(fā)射出去的連續(xù)波遇到液面發(fā)射時,發(fā)射回來的信頻率如圖1中點劃線所示,它比發(fā)射信滯后了一定時間τ。
根據(jù)微波傳播原理知道:
  τ=2R/C                               (1)
式中C是微波在空間中的傳播速度3×108km/s,R是液面距雷達物位儀的距離。
由于回波信頻率的滯后,使得反射頻率與發(fā)射信頻率之間的差頻為:
f=kτ                                 (2)
將以上兩式合并后可以得到:
R=C×f/2k
顯然R與f是成正比的,反射液面離物位儀的距離越遠所產(chǎn)生的差頻頻率f越大,因此可計算天線到反射面的距離。
信處理部分則對回波信與發(fā)射信的混合信進行處理,通過測量混合信頻譜,用快速傅立葉變換(FFT)來計算混合信,從中對混合信頻譜進行分析,排除掉干擾信,然后確定天線到反射界面的距離,從而完成測量。
2.2 優(yōu)點特性
雷達物位計采用非接觸式測量方法。目前較成熟的非接觸測量技術(shù)有超聲波、核輻射和微波。而在化工、石化等過程工業(yè)領(lǐng)域,由于被測介質(zhì)普遍存在高溫、高壓、腐蝕、揮發(fā)、冷凝等復(fù)雜工況,且對測量儀表有防爆要求。相比與超聲波,微波傳播的自身特點決定了雷達物位計的使用優(yōu)勢:
1) 定向傳播。
2) 準(zhǔn)光學(xué)特性。
3) 傳輸特性好。
4) 介質(zhì)對微波吸收與介質(zhì)的介電常數(shù)成比例。
由其自身特性決定,雷達物位計在使用上具有以下優(yōu)勢:
1) 連續(xù)準(zhǔn)確測量:由于雷達物位計不與被測介質(zhì)接觸,且受溫度、壓力、氣體等影響非常小。
2) 維護方便,操作簡單:雷達物位計具有故障報警及自診斷功能。
3) 適用范圍廣:非接觸式測量,方向性好,傳輸損耗小,可測介質(zhì)多。
4) 安裝簡單:在各行業(yè)應(yīng)用中,雷達物位計可直接安裝到儲罐頂部,安裝十分簡單。
雷達物位計通常分為脈沖雷達和調(diào)頻連續(xù)波雷達(FMCW)兩種。脈沖雷達的工作模式與超聲物位計相似:天線周期地發(fā)射微波脈沖,并接收物料面回波,同時對回波信進行分析處理,確認(rèn)有效回波,據(jù)之計算物位。線性調(diào)頻連續(xù)波測距原理:天線發(fā)射的微波是頻率波線性調(diào)制的連續(xù)波,當(dāng)回波被天線接收到時,天線發(fā)射頻率已經(jīng)改變。根據(jù)回波與發(fā)射波的頻率差可以計算出物料面的距離。E+H公司的雷達物位計基本采用脈沖雷達原理。西門子公司LR400系列采用調(diào)頻連續(xù)波雷達原理,LR300系列采用脈沖雷達原理。

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2.3 特性分類
按發(fā)射雷達波的頻率分,可分為高頻雷達和低頻雷達。高頻雷達發(fā)射的20GHz以上的高頻微波,根據(jù)波的特性:速度=波長*頻率,我們可以得知24GHz高頻的微波的波長較其他頻段的雷達波的波長要短的多。一般的講,固體料面的形狀是傾斜而且粗糙的,較小的波長可以zui大程度上保證發(fā)射出去的雷達波能夠在粗糙的固體表面zui大程度地被反射回雷達探頭。因而高頻雷達主要應(yīng)用于固體介質(zhì)和大量程場合的測量。低頻雷達發(fā)射微波頻率在100MHZ~6MHZ,主要應(yīng)用于液體介質(zhì)和小量程場合的測量。
按天線的形式分,可分為普通雷達和導(dǎo)波雷達。普通雷達發(fā)射的微波通過空間傳播。導(dǎo)波雷達則是通過波導(dǎo)體傳導(dǎo)來發(fā)射和接收電磁波的物位測量儀表。
導(dǎo)波雷達測量原理的基礎(chǔ)是電磁波的時域反射性,該原理用于物位測量時,微波發(fā)生器每秒中產(chǎn)生20萬個能量脈沖并發(fā)送入波導(dǎo)體,波導(dǎo)體與液體表面的接觸時,由于波導(dǎo)體在氣體中和液體中的導(dǎo)電性能大不相同,這種波導(dǎo)體導(dǎo)電性的改變使波導(dǎo)體的阻抗發(fā)生聚燃變化,從而產(chǎn)生一個物位反射原始脈沖。
3.雷達物位計使用的注意事項
3.1 介電常數(shù)的影響
低介電常數(shù)和變介電常數(shù)的被測介質(zhì),優(yōu)選導(dǎo)波雷達。低介電常數(shù)液體介質(zhì)反射信弱,信衰減嚴(yán)重,物位波動和泡沫散射引起信減弱,罐內(nèi)障礙物反射引起虛假信,為此就需要發(fā)射較強的電磁波信,并采用功能強的微處理器進行復(fù)雜的信處理。這就使得常規(guī)交流供電雷達物位計價格非常昂貴,但仍難以較好的解決在上述條件下的物位測量問題。導(dǎo)波雷達和常規(guī)雷達一樣,采用傳輸時間來測量介質(zhì)物位,信自烴類[介電常數(shù)2~3]液體表面或自水[介電常數(shù)80]面反射回傳的時間一樣的,不同的只是信幅度[強度]的差別。普通雷達須考慮介質(zhì)的影響,比較難辯識返回的各種信,從雜散信中檢出真正的物位信,而導(dǎo)波雷達僅需測量電磁波的傳輸時間即可,無需信的處理和辨別。
3.2 固體物料測量
對于粉狀物料,可以選擇纜式導(dǎo)波雷達。由于微波在鋼纜中傳輸,物料在輸送過程中產(chǎn)生的粉塵對測量沒有影響。閃速爐的精礦、石英、粉煤均采用E+H公司的FMP40系列的纜式導(dǎo)波雷達,測量效果良好。對于顆粒狀或塊狀物料,須選用高頻雷達物位計。而且微波的發(fā)射角愈小愈好。因為微波的頻率越高,微波的波長越短,保證發(fā)射出去的雷達波能夠在粗糙的固體表面zui大程度地被反射回雷達探頭,發(fā)射角愈小,形成雜波和漫發(fā)射的概率就越小。
3.3 液體、物位的測量
對于液面相對平穩(wěn)的罐體,且被測液體的介電常數(shù)較高,可以選擇普通雷達物位計。對于液面波動大、或帶有攪拌的罐體,或被測液體的介電常數(shù)較低,應(yīng)優(yōu)選導(dǎo)波雷達。因為導(dǎo)波管對液面有整型作用,且導(dǎo)波雷達的微波反射不易受環(huán)境條件變化的影響。被測液體的介電常數(shù)和密度變化對測量結(jié)果沒有影響。對于被測液體的粘度≥500cst,且液體粘附性較強的情況,不能選擇導(dǎo)波管方式測量,因為粘附和結(jié)晶會堵死導(dǎo)波管。從而形成虛假物位。可以選擇導(dǎo)波桿方式來測量。當(dāng)介質(zhì)在探頭上的涂污對測量物位的影響可分為兩種:膜狀涂污和橋接。膜狀涂污是在物位降低時,高粘液體或輕油漿在探頭上形成的一種覆蓋層。由于這種涂污在探頭上涂層均勻,因此對測量基本無影響;但橋接性涂污的形成卻能導(dǎo)致明顯的測量誤差,當(dāng)塊狀或條狀介質(zhì)污垢粘結(jié)于波導(dǎo)體上或橋接于兩個波導(dǎo)體之間時,就會在該點測得虛假物位。
3.4 雷達物位計的基本設(shè)定
1) 根據(jù)物位計測量儲罐的形狀,設(shè)定儲罐特性。
2) 根據(jù)檢測介質(zhì)的特性設(shè)定介電常數(shù)。
3) 在過程條件一項選擇所測介質(zhì)的過程變化情況,如果是桿式的雷達物位計,還應(yīng)該設(shè)定探頭底部的接觸情況。
4) 接下來按照工藝要求設(shè)定物位計的空標(biāo)和滿標(biāo)值,如果是導(dǎo)波管的還應(yīng)該設(shè)定導(dǎo)波管的直徑。
5) 根據(jù)設(shè)定的空標(biāo)值做全程抑制。
4.結(jié)束語
近年來,中國經(jīng)濟迅速發(fā)展,石油、化工、醫(yī)藥、食品等過程工業(yè)領(lǐng)域?qū)走_物位計的需求也將越來越大。相信雷達物位計將會有更好的明天,我們將不斷提高現(xiàn)有雷達物位計技術(shù)水平和開發(fā)新型的物位計,為用戶提供更好的服務(wù)。Madshen品牌具有美國知識產(chǎn)權(quán)雷達物位計的面世,為中國用戶提供了更大的選擇空間,也為他們優(yōu)化成本、合理配置資源提供了更大的方便。

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