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柔性線路板膜厚儀XTU系列測厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊,但是都有大容量的開槽設(shè)計樣品腔,即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。搭配微聚焦射線管和*的光路設(shè)計,以及變焦算法裝...
釹鐵硼磁鐵電鍍層分析儀1.*的EFP算法:多層多元素、各種元素及有機物,甚至有同種元素在不同層也可測量。2.上照式設(shè)計:實現(xiàn)可對超大工件進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測量...
環(huán)保測試儀 ROHS分析儀 EDX-1800B型 X熒光分析儀具有分析精度高、測試速度快、測試簡單等優(yōu)點???RoHS/WEEE相關(guān)管控要求,符合電工委員會IE...
PCB板材膜厚儀電鍍層測厚儀XTU 系列測厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊,但是都有大容量的開槽設(shè)計樣品腔,即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。搭配微聚焦射線管和*的光路設(shè)計,...
引線框架測厚儀下照式設(shè)計:快速方便的定位各種形狀的樣品,滿足一切測試所需。無損變焦檢測:擁有手動變焦功能,可對各種異形凹槽件進(jìn)行無損檢測,凹槽深度范圍0-30m...
國產(chǎn)鍍層測厚儀器 XTD系列測厚儀,專業(yè)表面處理檢測解決方案:XTD系列測厚儀,于檢測各種異形件,特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理...
Rohs2.0測試儀:針對EDX1800在各個領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護(hù)等級的需求,特別設(shè)計該款EDX1800B。應(yīng)用新一代的高壓電源和X光...
菲希爾油缸鍍層測厚儀 :X射線源和接收器位于測量室的下方,這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外,視頻窗口也可以輔助定位,儀器前方的大控制臺簡化了操作,特別是在日...
Rohs2.0檢測儀:針對EDX1800在各個領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護(hù)等級的需求,特別設(shè)計該款EDX1800B。應(yīng)用新一代的高壓電源和X光...
EDX1800B檢測儀器 ,ROHS測試儀:應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管,提高產(chǎn)品的可靠性;利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。并出品多國,同時為電子、電器...
EDX1800E測試儀 :針對EDX 1800B在各個領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護(hù)等級的需求,特別設(shè)計該款EDX 1800E。應(yīng)用新一代的高壓...
rohs儀器:RoHS光譜分析儀專為電子信息產(chǎn)品中ROHS有害物質(zhì)元素測試的儀器,產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)符合 電工委員會 IEC 62321 標(biāo)準(zhǔn)(XRF 篩選性檢測),符合...
EDX2800測試儀從2008年上市至今,取得客戶*好評。在ROHS測試,全元素分析,以及鍍層膜厚分析領(lǐng)域都有良好的表現(xiàn)!深圳恩陽電子有限公司是一家集X熒光光譜...
鍍金測金儀 鍍層測試儀 光譜分析儀性能優(yōu)勢:1.微小樣品檢測:小測量面積0.03mm²(加長測量時間可小至0.01mm&...
EDX1800BS-ROHS環(huán)保分析儀:RoHS光譜分析儀專為電子信息產(chǎn)品中ROHS有害物質(zhì)元素測試的儀器,產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)符合 電工委員會 IEC 62321 標(biāo)準(zhǔn)(...
ICP光譜儀ICP2060T :軟件具有數(shù)據(jù)檔案管理功能,支持?jǐn)?shù)據(jù)的備份、恢復(fù)、刪除,支持?jǐn)?shù)據(jù)的文本格式輸出。格式類可選,也可以打印輸出。
fischer X熒光光管,是膜厚測試儀核心部件,是X射線發(fā)生器。該配件有一定使用壽命。鍍層測厚儀油缸 菲希爾測厚儀油缸。深圳恩陽電子有限公司是一家集X熒光光譜...
天瑞環(huán)保ROHS檢測儀,ROHS儀器多少錢:應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管,提高產(chǎn)品的可靠性;利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。并出品多國,同時為電子、電器...
韓國先鋒膜厚儀 鍍測測試儀韓國先鋒XRF-2020膜厚儀檢測電子電鍍,化學(xué)電鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...可測單層,雙層,多層...
國產(chǎn)膜厚儀 電鍍測厚儀 1.微小樣品檢測:小測量面積0.03mm²(加長測量時間可小至0.01mm²)2.變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹...
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