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導波雷達物位計測量原理

導波雷達發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質(zhì)，由于介電常數(shù)突變，引起反射，一部分脈沖能量被反射回來。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測介質(zhì)的距離成正比。

導波雷達物位計特點

• 由于采用了*的微處理器和*的Echo Discovery回波處理技術，導波雷達物位計可以應用于各種復雜工況。

• 多種過程連接方式及探測組件的型式，使得7000系列導波雷達物位計適用于各種復雜工況及應用場合。如：高溫、高壓及小介電常數(shù)介質(zhì)等。

• 采用脈沖工作方式，導波雷達物位計發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內(nèi)，對人體及環(huán)境均無傷害。

技術參數(shù)

適用介質(zhì)：液體，特別是強腐蝕性的液體

應    用：酸類、堿類或其它腐蝕性介質(zhì)測量

防爆認證：Exia IIC T6 Ga/ Exd IIC T6 Gb

測量范圍：20m

頻    率：500MHz-1.8GHz

天    線：全四氟密封纜式或桿式天線

測量精度：±10mm

過程溫度：-40～130℃(標準型) /-40～200℃(高溫型)

過程壓力：（-0.1～0.3）MPa

信號輸出：（4～20）mA/HART

現(xiàn)場顯示：四位LCD  可編程

電    源：兩線制（DC24V)/四線制（DC24V/AC220V）

外    殼：鋁 單腔/鋁 雙腔/塑料/不銹鋼 單腔

過程連接：螺紋/法蘭（選配）