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產品簡介
詳細介紹
TEJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀
儀器介紹
TEJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。
技術參數
作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz。 SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀采用了多項領*技術：
的創(chuàng)新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。 | |
| 主要技術特性 | |
| Q 值測量范圍 | 2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動換檔或手動換檔 |
| 固有誤差 | ≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） |
| 工作誤差 | ≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） |
| 電感測量范圍 | 4.5nH ～ 140mH |
| 電容直接測量范圍 | 1 ～ 200pF |
| 主電容調節(jié)范圍 | 18 ～ 220pF |
| 主電容調節(jié)準確度 | 120pF 以下 ± 1.2pF ； 120pF 以上 ± 1 ％ |
| 信號源頻率覆蓋范圍 | 100kHz ～ 160MHz |
| 頻率分段 （ 虛擬 ） | 100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz |
頻率指示誤差 | 3 × 10 -5 ± 1 個字 |