白光干涉儀talysurf cci mp

結(jié)構(gòu)緊湊的高新能白光干涉儀

單一測量模式，新一代白光干涉儀

良好的光學(xué)干涉測量技術(shù)  •     非壓電陶瓷閉環(huán)Z軸掃描控制，2.2毫米掃描范圍  •     改進后的拼接功能，使Z軸量程可達100毫米  •     1024  x  1024像素陣列可獲得高分辨率的大視場  •     增強了角度靈敏度，能夠得到更好的測量數(shù)據(jù) 從實質(zhì)上消除測量的不確定性  •     RMS重復(fù)性小于0.2埃，臺階高度重復(fù)性小于0.1%  •     整個測量量程有著0.1埃分辨率  •     FEA優(yōu)化機械設(shè)計，具備出色的R&R能力  •     采用ISO標準的校準，確保結(jié)果的可信度

追求長期成本效益的堅固耐用設(shè)計  •     非壓電Z軸掃描控制可省去昂貴的維修費用  •     自動表面檢測可防止撞壞鏡頭  •     內(nèi)置自我診斷工具可快速、輕松地排除故障  •     操作的簡便性可減少使用者出錯可能 64位控制和分析軟件  •     包括中文、日文在內(nèi)的多語種支持  •     兼容大多數(shù)計算機平臺，有利于開展合作性研究項目  •     提供多種新工具，包括3D表面隨時間演變過程中進行4D分析  •     根據(jù)多批次測量數(shù)據(jù)自動生成報告

高性能的CCI MP是科研和制造*不可少的測量手段。

大量程、高分辨率、高準確性和高可靠性–取得成功的四大要素
無論哪種零件、無論多快的分析速度，CCI MP均可保證三維面形測量結(jié)果的準確性。配備1/10埃垂直分辨率的一百萬像素高性能攝像頭，可對非常粗糙到非常光滑的所有表面進行細致全面的分析。功能豐富–可隨時用于生產(chǎn)運營或研究項目時刻與研發(fā)人員和科學(xué)家的專業(yè)技術(shù)同步發(fā)展，CCI       MP能夠滿足包括太陽能、光學(xué)和醫(yī)療器械等領(lǐng)域提出的苛刻的測量要求。高級數(shù)據(jù)拼接功能拓展了儀器的可測量范圍。

使用的簡便性可減少操作員的培訓(xùn)成本
即便不常使用，也無需對操作員重新進行培訓(xùn)和指導(dǎo)。CCI    MP的設(shè)計便于科學(xué)家、學(xué)生、開發(fā)人員或生產(chǎn)檢查人員使用。CCI MP的創(chuàng)新功能如自動量程和自動條紋尋找等，可以簡化樣品的調(diào)整過程。為用戶節(jié)省時間、減少錯誤并快速得出所需結(jié)果。

完整的平臺簡化ISO-17025的集成
 不需要增加程序的復(fù)雜性就可使用戶的分析能力得到很大提高。也不需要測量模式間進行復(fù)雜的切換，以及測量過程中校準鏡頭，就可以測量多種多樣零件和表面。標準化的模式、程序和報告功能，使CCI MP可輕松集成到用戶的質(zhì)量管理系統(tǒng)。

無限的應(yīng)用可能性

許多用戶依靠CCI MP解決其他儀器*無法處理的測量問題。憑借出色的量程、非常高的分辨率以及操作簡便的優(yōu)勢,成為在眾多應(yīng)用場合中研發(fā)和質(zhì)量保證的理想工具。