小巧、便攜、耐用： 菲希爾FISCHER公司推出的MP0和MP0R系列無損測(cè)厚儀可以快速、精確地測(cè)量涂鍍層的厚度，滿足客戶對(duì)于FISCHER一貫的精度等級(jí)的期待。
品牌：德國菲希爾 

DUALSCOPE MP0R/MP0R-FP雙功能測(cè)厚儀

菲希爾MP0R和MP0R-FP帶有一個(gè)集成探頭或一個(gè)延長型探頭，內(nèi)置了10,000個(gè)數(shù)據(jù)的儲(chǔ)存功能，并定制了符合IMO PSPC和SSPC-PA2規(guī)則的防腐層的特殊測(cè)量模式。

DELTASCOPE®FMP10
磁感應(yīng)測(cè)厚儀

來自德國菲希爾的FMP10機(jī)型適用于測(cè)量鐵基體上的涂鍍層厚度。是專業(yè)便攜式測(cè)量系統(tǒng)中的入門級(jí)機(jī)型，是現(xiàn)場(chǎng)檢查和控制測(cè)量的理想選擇。操作簡(jiǎn)便，。

品牌：德國菲希爾 

ISOSCOPE®FMP10

渦流測(cè)厚儀

菲希爾測(cè)厚儀渦流型FMP10專為高精度測(cè)量非鐵金屬上的超薄涂鍍層厚度而設(shè)計(jì)的。它們操作簡(jiǎn)便，機(jī)體堅(jiān)固并配有一塊高對(duì)比度彩色顯示屏和一個(gè)USB端口，可以輕松地將測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)诫娔X

菲希爾雙功能型測(cè)厚儀fmp20可以測(cè)量幾乎所有金屬底材上的涂鍍層厚度。是基于磁感應(yīng)法(DELTACOPE)、電渦流法(ISOSCOPE)和兩用方法(DUALSCOPE)，并采用了可更換探頭的設(shè)計(jì)。品牌：德國菲希爾 

用于測(cè)量鐵基體上的涂鍍層厚度。為測(cè)量數(shù)據(jù)的獲取提供了更多的策略，為儲(chǔ)存客戶自定義的測(cè)量應(yīng)用提供了更多的空間，多可以儲(chǔ)存20000個(gè)數(shù)據(jù)，更是提供了藍(lán)牙數(shù)據(jù)傳輸功能。

ISOSCOPE® FMP30 

渦流測(cè)厚儀

專為高精度測(cè)量非鐵金屬上的薄涂鍍層厚度而設(shè)計(jì)的。大量的圖形和統(tǒng)計(jì)功能使其能更適用于復(fù)雜的測(cè)量應(yīng)用。品牌：德國菲希爾 

DUALSCOPE® FMP40

雙功能測(cè)厚儀 

能夠自動(dòng)識(shí)別底材材料并且集成了兩種測(cè)量方法，使這個(gè)系列的儀器可以測(cè)量鋼材和鐵材亦或是非鐵磁基材上的大部分涂鍍層的厚度。還能夠在一次測(cè)量過程中同時(shí)測(cè)得兩層涂鍍層的厚度（油漆層/鋅層），并且分別顯示出來。品牌：德國菲希爾 

德國菲希爾DUALSCOPE®FMP100是一款功能強(qiáng)大、界面友好的涂鍍層測(cè)厚儀，可以滿足眾多不同的測(cè)量需求。它集成了磁感應(yīng)法和電渦流法于一體并可裝配各種不同的高精度探頭，即使在不斷變化的測(cè)量條件下，它都能很好的完成各種測(cè)量任務(wù)。品牌：德國菲希爾 

德國菲希爾DUALSCOPE®H FMP150進(jìn)一步配備了第三種測(cè)量原理，即磁性法。它除了采用磁感應(yīng)法和電渦流法測(cè)量涂鍍層厚度外，還可以測(cè)量非磁性金屬底材上鎳鍍層的厚度

菲希爾rmp30--s通過電阻法無損測(cè)量印制電路板上銅鍍層的厚度。由于儀器能不受中間銅層和背面銅層的影響，因而特別適合多層板及超薄板上頂層銅箔厚度的測(cè)量。

品牌：德國菲希爾 

主要用于在電鍍和PCB行業(yè)中對(duì)各種基材上的金屬鍍層的厚度進(jìn)行質(zhì)量控制。無論樣品表面是否平滑，PMP10都可以精確測(cè)量鐵基材上的鍍鎳層、鍍銅層和鍍鋅層的厚度；它還能對(duì)印制電路板上的銅層厚度，甚至是孔內(nèi)銅層的厚度進(jìn)行測(cè)量。
品牌：德國菲希爾 

菲希爾PMP10 Duplex型儀器是專為汽車行業(yè)測(cè)量雙鍍層而開發(fā)的（例如：油漆/Zn/Fe）：通過一次測(cè)量就能同時(shí)獲得和顯示兩層涂鍍層各自的厚度。它還可以測(cè)量鋁材上油漆層的厚度。

CMS型儀器可以快速、精確地測(cè)量任何基材上幾乎所有金屬鍍層的厚度，甚至是多鍍層的厚度。它的測(cè)量是一個(gè)通過庫侖法進(jìn)行反電鍍的過程。儀器采用了菜單式界面、操作簡(jiǎn)便，是對(duì)電鍍產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控和來料檢驗(yàn)的理想選擇。
品牌：德國菲希爾 

CMS2 STEP型儀器用于對(duì)鍍層厚度和電位差進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化STEP測(cè)試。例如：對(duì)多層鎳產(chǎn)品的質(zhì)量控制。是一種針對(duì)多層鎳系統(tǒng)，在測(cè)量每個(gè)單獨(dú)的鍍層厚度的同時(shí)還能測(cè)定相鄰鍍層的電位差的方法。

帶內(nèi)置Windows™ CE操作系統(tǒng)和網(wǎng)絡(luò)互聯(lián)功能的臺(tái)式多功能測(cè)量系統(tǒng)，尤其適合于無損，高精度的鍍層厚度測(cè)量及材料測(cè)試。根據(jù)需求可以在儀器上采用不同的測(cè)量方法，如電渦流法、磁性法、磁感應(yīng)法或電阻法等。能測(cè)量金屬上幾乎所有材料的鍍層厚度，以及非導(dǎo)電材料上的金屬鍍層厚度。