德國(guó)菲希爾X-RAY XDL 220熒光鍍層分析儀

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來(lái)的。與上一代相類似，它尤其適合無(wú)損測(cè)量鍍層厚度及材料分析，同時(shí)還能全自動(dòng)測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法，無(wú)論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測(cè)量。*多可同時(shí)測(cè)量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。X-RAY XDL 220平面樣品平臺(tái)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的Z軸系統(tǒng)。

XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。X射線熒光光譜儀，用于對(duì)保護(hù)和裝飾涂料，量產(chǎn)的零件和印制板上的涂層進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)厚度測(cè)量。

典型應(yīng)用領(lǐng)域 ?測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件 ?測(cè)量超薄鍍層，例如：裝飾鉻 ?測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層 ?測(cè)量印刷線路板 ?分析電鍍?nèi)芤?br />

主要特征 ?帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦?X射線管。*高工作條件:50KV,50W ?X射線探測(cè)器采用比例接收器 ?準(zhǔn)直器：固定或4個(gè)自動(dòng)切換，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm ?基本濾片：固定或3個(gè)自動(dòng)切換 ?測(cè)量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整 ?固定樣品支撐臺(tái) ，手動(dòng)XY工作臺(tái) ?攝像頭用來(lái)查看基本射線軸向方向的測(cè)量位置?？潭染€經(jīng)過校準(zhǔn)，顯示實(shí)際測(cè)量點(diǎn)大小。 ?設(shè)計(jì)獲得許可，防護(hù)全面，符合德國(guó)X射線條例第4章第3節(jié)