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測(cè)量部位包括:
(1)母線連接處以及其他元器件與母線的連接處。
(2)抽屜式設(shè)備的母線室、功能單元室和電纜室的空間。
(3)可觸及的門、手柄和覆板。
以上三種部位均應(yīng)盡量選產(chǎn)生溫升zui高點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量。
當(dāng)溫度變化不超過1℃/h時(shí),則可記錄其溫升值。其值應(yīng)不超過有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定值。裝置內(nèi)絕緣沒有破壞,元器件在設(shè)備內(nèi)的溫度條件下正常工作,則溫升試驗(yàn)合格。
試驗(yàn)方案應(yīng)選擇損耗zui大的方案。
進(jìn)行單獨(dú)電路的溫升試驗(yàn)時(shí),電路應(yīng)通以設(shè)計(jì)規(guī)定的額定工作電流。
進(jìn)行裝置的溫升試驗(yàn)時(shí),在考慮了額定分散系數(shù)后,應(yīng)選擇一個(gè)或幾個(gè)有代表性的并能獲得zui高溫升的電路,給這些電路通以各自設(shè)計(jì)規(guī)定的額定工作電流。
試驗(yàn)時(shí)輔助電路(包括繼電器、接觸器、脫扣器的線圈)應(yīng)加上設(shè)計(jì)規(guī)定的額定工作電壓。
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