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密云hast老化試驗箱國家標準產(chǎn)品詳情   

用于調查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST)現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(國際電工委員會)所標準化。

密云hast老化試驗箱型號技術參數(shù)：HAST-30、HAST-40、HAST-50、HAST-60  

規(guī)格內:ф30x45、ф45x50、ф55x60、ф65x70  

溫度范圍:+100℃～132℃  

濕度范圍:可調100％RH飽和蒸氣固定  

壓力范圍:環(huán)境大氣壓+0.5—2kg/cm2  

密云hast老化試驗箱性能：操作環(huán)境需在室溫30℃以下且通風良好之條件下進行.  

1.溫度范圍:110℃/132℃.(飽和蒸氣溫度).  

2.濕度范圍:100%RH.(飽和蒸氣濕度).  

3.壓力范圍:0.5Kg/cm2～2.0Kg/cm2控制點壓力(壓力容量3.5Kg/cm2).  

4.時間范圍:0~999小時可調.  

5.溫度分布:(+/-)2.0℃.  

6.升溫時間:RT~132℃約35分鐘內.(控制點溫度)  

7.加壓時間:0.0Kg/cm2~2.0Kg/cm2約40分鐘內(控制點壓力)。  

密云hast老化試驗箱國家標準控制系統(tǒng)：  

1.微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器.  

2.本系統(tǒng)符合高壓加速老化之可靠度試驗規(guī)格:CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、NACE、UL、MIL…  

3.控制對象:微電腦+P.I.D.+S.S.R自動演算控制飽和蒸氣溫度.  

4.控制方式:微電腦PID控制.  

5.控制精度:(+/-)0.5℃.  

6.解析精度:0.1℃.  

循環(huán)方式：飽和水蒸氣自然對流循環(huán)方式.  

溫度感應器：(RTD)PT-100Ω(鉑金電阻).  

加溫電熱器：絕緣耐壓型溫度電熱器.