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目錄:聯(lián)合光科技(北京)有限公司>>測(cè)量?jī)x器>>光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)>> 760500紅外焦平面探測(cè)器測(cè)試系統(tǒng)

紅外焦平面探測(cè)器測(cè)試系統(tǒng)
  • 紅外焦平面探測(cè)器測(cè)試系統(tǒng)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 聯(lián)合光科
  • 型號(hào) 760500
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
屬性

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更新時(shí)間:2024-03-29 12:53:37瀏覽次數(shù):75評(píng)價(jià)

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紅外焦平面探測(cè)器測(cè)試系統(tǒng)是熱成像系統(tǒng)最重要的核心部件。探測(cè)器電路(機(jī)芯)的設(shè)計(jì)是一個(gè)新的熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵部分。
外焦平面探測(cè)器是熱成像系統(tǒng)最重要的核心部件。探測(cè)器電路(機(jī)芯)的設(shè)計(jì)是一個(gè)新的熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵部分。紅外焦平面技術(shù)或熱像儀技術(shù)方面的專業(yè)人員必須精確地了解紅外焦平面探測(cè)器參數(shù)方面的知識(shí),這是因?yàn)榧t外焦平面探測(cè)器的參數(shù)決定了熱像儀系統(tǒng)的性能極限。因此測(cè)量紅外焦平面探測(cè)器性能的測(cè)量設(shè)備是研發(fā)紅外熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵。 
通常由探測(cè)器生產(chǎn)廠家提供的技術(shù)資料給出的信息對(duì)于電路設(shè)計(jì)者來(lái)說(shuō)很有限。有時(shí)候廠家提供的參數(shù)并不是十分準(zhǔn)確。采用改進(jìn)的控制信號(hào)可以提高探測(cè)器的性能。結(jié)果設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)肯要花費(fèi)幾年的時(shí)間來(lái)研發(fā)針對(duì)每種型號(hào)焦平面探測(cè)器的機(jī)芯。當(dāng)采用不同的焦平面探測(cè)器是還需要重復(fù)整個(gè)過(guò)程。在這種情況下需要一個(gè)通用靈活的機(jī)芯可以與不同廠家的焦平面探測(cè)器匹配,并且能夠半自動(dòng)確定對(duì)某種探測(cè)器的控制信號(hào)。
FT焦平面測(cè)量系統(tǒng)是一個(gè)模塊化測(cè)量系統(tǒng),它能夠完成如下兩個(gè)任務(wù)。一是能夠測(cè)量焦平面探測(cè)器的所有重要參數(shù);而是能夠半自動(dòng)確定某種探測(cè)器控制信號(hào)。
紅外焦平面探測(cè)器最終的產(chǎn)品(與讀出電路集成的)是現(xiàn)代熱像儀的核心。二維焦平面實(shí)際上可以看成是沒(méi)有輸入光學(xué)和輸出觀察系統(tǒng)的熱像儀。有許多的一系列特性可以用來(lái)描述現(xiàn)代二代和三代紅外焦平面。一些參數(shù)如MTF、NETD、FPN、非均勻性,相對(duì)光譜靈敏度曲線等和描述熱像儀系統(tǒng)的參數(shù)是一致的。也有一些參數(shù)如串?dāng)_、點(diǎn)掃描,來(lái)源于傳統(tǒng)分立探測(cè)器的特性參數(shù)如歸一化NEP和D*是焦平面探測(cè)器所有的。
FT測(cè)量系統(tǒng)一個(gè)模塊化的實(shí)驗(yàn)室內(nèi)使用的系統(tǒng)。由于采用了模塊化設(shè)計(jì),F(xiàn)T測(cè)量系統(tǒng)可以方便快速地配置成三個(gè)半獨(dú)立的測(cè)量的工作站放置在實(shí)驗(yàn)室光學(xué)平臺(tái)上:FT-N,F(xiàn)T-I,和FT-S。
<strong><strong>紅外焦平面探測(cè)器測(cè)試系統(tǒng)</strong></strong>

  • FT-N:測(cè)量紅外焦平面探測(cè)器的噪聲和響應(yīng)特性

  • FT-I:測(cè)量紅外焦平面探測(cè)器的成像質(zhì)量特性 

  • FT-S:測(cè)量紅外焦平面探測(cè)器的光譜響應(yīng)特性


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