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[供應(yīng)]實(shí)驗(yàn)室高純鍺(HPGe)γ能譜儀
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  • 實(shí)驗(yàn)室高純鍺(HPGe)γ能譜儀
貨物所在地:
上海上海市
更新時(shí)間:
2024-04-01 21:00:07
有效期:
2024年4月1日 -- 2024年10月1日
已獲點(diǎn)擊:
1378
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美國(guó)堪培拉canberra實(shí)驗(yàn)室高純鍺(HPGe)γ能譜儀
堪培拉提供較豐富γ譜儀系統(tǒng)
主要應(yīng)用領(lǐng)域:
? 高分辨率γ譜學(xué)
? 實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用
? 定時(shí)實(shí)驗(yàn)
? 符合/反符合系統(tǒng)
? 反Compton系統(tǒng)
? 無(wú)人值守操作&遠(yuǎn)程控制

詳細(xì)介紹

 

美國(guó)堪培拉canberra實(shí)驗(yàn)室高純鍺(HPGe)γ能譜儀

     CANBERRA的CosmicGuard™是任何新的或現(xiàn)有的高純鍺(HPGe)計(jì)數(shù)系統(tǒng)的簡(jiǎn)單附件,其中包括Lynx數(shù)字信號(hào)分析儀和Genie 2000或Apex-Gamma光譜學(xué)軟件。*獨(dú)立的防護(hù)探測(cè)器/電子模塊可直接安裝在直徑為50.8或55.9厘米(20或22英寸)的圓形蓋的鉛屏蔽上,或通過(guò)提升機(jī)構(gòu)安裝在屏蔽臺(tái)上以便頂部打開(kāi)或非圓形盾牌。該系統(tǒng)直接連接到HPGe檢測(cè)器的Lynx DSA和一臺(tái)控制的Genie或Apex®計(jì)算機(jī) - 不需要NIM或其他電子設(shè)備.

描述

    鍺探測(cè)器是具有pin結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體二極管,其中本征(I)區(qū)域?qū)﹄婋x輻射特別是x射線和γ射線敏感。在反向偏壓下,電場(chǎng)延伸穿過(guò)固有區(qū)或耗盡區(qū)。當(dāng)光子與檢測(cè)器的耗盡體積內(nèi)的材料相互作用時(shí),會(huì)產(chǎn)生電荷載流子(空穴和電子),并被電場(chǎng)掃描到P和N電極。與入射光子在檢測(cè)器中沉積的能量成比例的這個(gè)電荷通過(guò)整體電荷敏感前置放大器轉(zhuǎn)換成電壓脈沖。

因?yàn)殒N具有相對(duì)較低的帶隙,所以必須冷卻這些檢測(cè)器以便將電荷載流子的熱生成(因此反向漏電流)降低到可接受的水平。否則,泄漏電流引起的噪聲破壞了鍺探測(cè)器的能量分辨率。溫度為77°K的液氮是這種檢測(cè)器的常用冷卻介質(zhì)。鍺探測(cè)器安裝在真空室中,該真空室連接或插入LN2杜瓦瓶中。靈敏的探測(cè)器表面因此可以防止潮濕和可凝結(jié)的污染物。

美國(guó)堪培拉canberra實(shí)驗(yàn)室高純鍺(HPGe)γ能譜儀探測(cè)器產(chǎn)品類別

  標(biāo)準(zhǔn)電極同軸鍺檢測(cè)器(SEGe)
寬能型鍺探測(cè)器(BEGe)
反向電極同軸鍺檢測(cè)器(REGe)
擴(kuò)展范圍同軸Ge檢測(cè)器(XtRa)
小陽(yáng)極鍺探測(cè)器(SAGe井)
傳統(tǒng)的鍺探測(cè)器
低能量鍺探測(cè)器(LEGe)
超級(jí)LEGe探測(cè)器(GUL)
ACT-LC - HPGe探測(cè)器用于Act系統(tǒng)肺和全身計(jì)數(shù)器
鍺陣列檢測(cè)器

 

多種制冷方式:液氮制冷或電制冷

 

探測(cè)器類型

 

輻射類型

探測(cè)器類型

帶電粒子

γ射線

X射線

NaI(T1)閃爍探測(cè)器 - 標(biāo)準(zhǔn)尺寸為3 x 3英寸(7.6 x 7.6厘米)。請(qǐng)向工廠咨詢未列出的尺寸,包括Ge Compton抑制系統(tǒng)的環(huán)形空間。

PIPS ®帶電粒子檢測(cè) -用于α-和/或β-帶電粒子分析崎嶇探測(cè)器整條生產(chǎn)線。

超低能量Ge探測(cè)器 - 光譜從0.3到300 keV。

低能量鍺探測(cè)器 - 低能量光子能譜儀,能量范圍為3至500千電子伏特。

廣泛的能量鍺探測(cè)器 - 從3 keV到3 MeV的高效率和分辨率。

同軸Ge探測(cè)器 - 40 keV至10 MeV的一般γ射線光譜

XtRa探測(cè)器 - 從3 keV到10 MeV的γ射線光譜。

反向電極Ge檢測(cè)器 - 抗輻射損傷 - 從3keV到10MeV的光譜學(xué)。

鍺和硅探測(cè)器 - 用于研究和定制應(yīng)用。

Ge探測(cè)器 - 小樣本的計(jì)數(shù)效率接近4π。

 

Si(Li)探測(cè)器 - 用于X射線光譜學(xué) - 30keV及以下。

陣列檢測(cè)器 - 用于EXAFS和同步加速器相關(guān)應(yīng)用。

X-PIPS™探測(cè)器 - 珀耳帖冷卻硅X射線探測(cè)器 - 光譜從1到30keV。

系統(tǒng)主要組成部件(用戶可以根據(jù)具體應(yīng)用需求靈活配置):

● 高純鍺探測(cè)器:寬能鍺探測(cè)器、P型同軸鍺探測(cè)器、N型同軸鍺探測(cè)器、井形探測(cè)器、低能鍺探測(cè)器、平面鍺探測(cè)器;

● 低溫恒溫器:可選的常規(guī)液氮低溫恒溫器,液氮與電組合致冷的低溫恒溫器,電致冷低溫恒溫器;

● 一體化屏蔽室:低本底、超低本底鉛室;

● 多道分析器:數(shù)字化多道分析器、模擬多道分析器;

● 應(yīng)用軟件: LabSOCS無(wú)源效率刻度軟件、Genie2000譜數(shù)據(jù)獲取和分析軟件、Apex高效運(yùn)行和管理軟件;

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