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什么是接觸電阻測試以及為什么接觸電阻測試完成
什么是接觸電阻
專業(yè)生產(chǎn)接觸電阻測試儀，專業(yè)電測十五年。接觸電阻是指當(dāng)觸點(diǎn)彼此接觸時(shí)（在器件閉合狀態(tài)下），由于表面狀況和其他原因?qū)е碌碾娏髯枇Α?/p>
•破碎機(jī)
•接觸
•繼電器
•開關(guān)
•連接器
•其他開關(guān)設(shè)備
接觸電阻測試也稱為Ductor測試，測量電氣連接的電阻 - 端子，接頭，連接器，母線段或電纜連接等。這些可以是任何兩個(gè)導(dǎo)體之間的連接，例如，電纜連接或母線部分。用于執(zhí)行導(dǎo)體測試的儀器稱為歐姆表，由于其功能是執(zhí)行導(dǎo)體測試，因此歐姆表也稱為導(dǎo)體測試儀。
測試儀測試儀有多種型號可供選擇，如HTHL-100A，HTHL-100B和HTHL-100P。用于測量電氣測試的不同應(yīng)用中的電阻。該測試儀由直流電流表和一些其他組件組成。該測試測量微米級或毫歐級的電阻，主要用于驗(yàn)證電氣連接是否正確，并可檢測以下問題：
•連接松動
•螺栓連接處有足夠的張力
•侵蝕的接觸面
•受污染或腐蝕的接觸
術(shù)語接觸電阻是指對系統(tǒng)的總電阻的貢獻(xiàn)，其可歸因于電引線和連接的接觸界面，而不是固有電阻，固有電阻是固有特性，與測量方法無關(guān)。這種效應(yīng)通常由術(shù)語電接觸電阻或ECR描述，并且可以在稱為電阻蠕變的過程中隨時(shí)間變化，常見地減小。William Shockley介紹了注入電極可能下降的想法，以解釋實(shí)驗(yàn)結(jié)果與逐漸通道近似模型之間的差異。除了術(shù)語ECR之外，還使用“界面電阻”，“過渡電阻”或僅僅“校正項(xiàng)”。術(shù)語“寄生電阻”已被用作更通用的術(shù)語，
為什么需要接觸電阻測試？
需要定期檢查斷路器中的觸點(diǎn)，以確保斷路器健康且功能正常。接觸不良或接觸不良會導(dǎo)致電弧放電，失相，甚至起火。
該測試對于承載大量電流的觸點(diǎn)（例如開關(guān)設(shè)備母線）尤為重要，因?yàn)檩^高的接觸電阻會導(dǎo)致較低的載流量和較高的損耗。Ductor測試通常使用微/毫歐表或低歐姆表進(jìn)行。
接觸電阻的測量有助于識別觸點(diǎn)的微動腐蝕，并且可以診斷和防止接觸腐蝕。接觸電阻的增加會導(dǎo)致系統(tǒng)中的高壓降，并且需要進(jìn)行控制。
在接觸電阻測試期間做了什么？
對斷路器觸點(diǎn)進(jìn)行的兩種常見檢查是目視檢查和接觸電阻檢查。
1.目視檢查檢查包括檢查斷路器的觸點(diǎn)是否有由于電弧放電和磨損或變形觸點(diǎn)引起的任何點(diǎn)蝕痕跡。
2.第二項(xiàng)檢查是接觸電阻測量。這涉及通過觸點(diǎn)注入固定電流，通常約為100A，200A和300A，并測量其上的電壓降。該測試使用特殊的接觸電阻測量儀器完成。然后，使用歐姆定律計(jì)算電阻值。電阻值需要與制造商給出的值進(jìn)行比較。該值還應(yīng)與之前的記錄進(jìn)行比較。
這兩項(xiàng)測試都需要一起完成。由于存在接觸具有良好接觸電阻但仍處于損壞狀態(tài)的情況。因此，對于認(rèn)證健康的接觸，它需要具有良好的接觸電阻并且應(yīng)該清除視覺檢查測試。
一般有兩種類型的導(dǎo)管測試儀：
1.串聯(lián)型歐姆表有4個(gè)電阻，內(nèi)部電池電壓-E和輸出端子A和B.當(dāng)A和B端子與R1和R2電阻連接時(shí)，電池形成一個(gè)簡單的串聯(lián)電路。
2.分流式歐姆表，用于測量小電流電阻值。當(dāng)A和B端子閉合時(shí)，針讀數(shù)為零，因?yàn)殡娏鲀H通過電阻器RX流動。當(dāng)這兩個(gè)端子斷開時(shí)，沒有電流流過RX電阻，因此導(dǎo)體測試儀上的讀數(shù)標(biāo)記為無限。
我們?nèi)绾芜M(jìn)行接觸電阻測試？
測試標(biāo)準(zhǔn)
評估電氣連接的接觸電阻的標(biāo)準(zhǔn)很大程度上取決于連接類型（例如螺栓連接，焊接，夾緊，焊接等），金屬接觸表面積，接觸壓力等。這些因設(shè)備而異。制造商并沒有要求小接觸電阻的代碼或標(biāo)準(zhǔn)。因此，需要咨詢制造商的建議。例如，對于大型螺栓母線接頭，制造商有時(shí)會引用10微歐的大接觸電阻。
接觸電阻測量及其應(yīng)用領(lǐng)域相當(dāng)廣泛。
電氣連接
電路的電氣連接有各種方式和方法，例如通過焊接，按壓，插入和緊密印刷等連接。如果您想了解連接器的質(zhì)量及其傳導(dǎo)特性，您只需要測量其接觸電阻。接觸電阻通常用于開關(guān)，繼電器和PCB焊盤的質(zhì)量測試。
在機(jī)械組件方面，金屬接觸表面的接觸電阻可用于估計(jì)機(jī)械組件的可靠性和緊密性。接觸電阻與接觸表面的傳導(dǎo)特性有關(guān)。對金屬表面的面積越大，雜質(zhì)越少，導(dǎo)電性越好，電阻越低，反之亦然。
通過測量接觸電阻的方法，我們可以定性地分析機(jī)械組件的可靠性和緊密性。該技術(shù)已經(jīng)應(yīng)用于EMC屏蔽組件的質(zhì)量測試中。不同應(yīng)用的測量方法不盡相同。例如，在測量大功率開關(guān)和繼電器的接觸電阻的情況下，應(yīng)該使用高電流，一對接觸，就像工作狀態(tài)下實(shí)際發(fā)生的情況一樣。在干電路連接器的情況下，測試電流應(yīng)該低，以防止接頭被熱量熔化（電流小于100mA）。
機(jī)械裝配
在測試機(jī)械裝配質(zhì)量的情況下，應(yīng)根據(jù)不同的結(jié)構(gòu)選擇不同的測試電路。結(jié)構(gòu)有兩種，循環(huán)結(jié)構(gòu)緊密，非循環(huán)結(jié)構(gòu)是開放的。他們的測量方法*不同。
如何測量環(huán)路中包含的接觸電阻，但不改變電路？
一種新方法將解決它。這種方法對于測量復(fù)雜機(jī)械裝配中的接觸電阻非常有用。接觸電阻定義為觸點(diǎn)兩端的電壓與流過一對閉合觸點(diǎn)的電流之比。它符合歐姆定律。金屬1和金屬2之間存在接口。來自電流源的電流I流過該接口，可以從電流表讀取。然后，可以從電壓表讀取接口上的電壓降，如U.然后可以通過計(jì)算接觸電阻值Rx。
RX = U / I
由于接觸電阻隨環(huán)境變化而電流通過，因此測量條件應(yīng)與使用條件相近。必須使用四端測量技術(shù)和消除熱電動勢技術(shù)進(jìn)行測量。這種間接測量方法可用于測量接觸電阻或回路電阻。它需要三個(gè)測試點(diǎn)，三個(gè)步驟和三個(gè)公式。該方法已被批準(zhǔn)為正確，也可用于校準(zhǔn)環(huán)路電阻器標(biāo)準(zhǔn)。
接觸電阻測試的典型方法
四線（開爾文）直流電壓降是微歐姆表用于接觸電阻測試的典型方法，通過消除自身的接觸電阻和測試引線的電阻，可確保更的測量。
•接觸電阻測試使用兩個(gè)用于注入的電流連接，以及兩個(gè)用于電壓降測量的電位引線; 電壓電纜必須盡可能靠近待測連接，并且始終在由連接的電流引線形成的電路內(nèi)。
•從電壓降的測量，微處理器控制的微歐姆計(jì)算接觸電阻，同時(shí)消除由于連接中的熱EMF效應(yīng)可能產(chǎn)生的誤差（熱電動勢是兩種不同金屬連接在一起時(shí)產(chǎn)生的小熱電偶電壓）它們將被添加到測量的總電壓降中，如果不通過不同的方法從測量中減去它們（極性反轉(zhuǎn)和平均，直接測量熱EMF幅度等），它們將在接觸電阻測試中引入誤差。
•如果在使用低電流測試斷路器接觸電阻時(shí)獲得低電阻讀數(shù)，則建議以更高的電流重新測試觸點(diǎn)。為什么我們會利用更高的電流獲益？較高的電流將能夠克服端子上的連接問題和氧化，其中較低的電流可能在這些條件下產(chǎn)生錯(cuò)誤（較高）的讀數(shù)。
在接觸電阻測試中，保持一致的測量條件非常重要，能夠與趨勢分析的先前和未來結(jié)果進(jìn)行比較。因此，在進(jìn)行定期測量時(shí)，必須在相同位置進(jìn)行接觸電阻測試，使用相同的測試引線（始終使用制造商提供的校準(zhǔn)電纜），并在相同條件下，以便能夠知道何時(shí)進(jìn)行接合，連接，焊接或設(shè)備將變得不安全。
結(jié)論
熱導(dǎo)率的測量也受到接觸電阻的影響，在通過粒狀介質(zhì)的熱傳輸中具有特別重要的意義。類似地，當(dāng)流體流動從一個(gè)通道轉(zhuǎn)換到另一個(gè)通道時(shí)，發(fā)生流體靜壓力（類似于電壓）的下降。
接觸電阻測試提供有關(guān)觸點(diǎn)的健康程度及其處理額定電流的能力的信息。
應(yīng)根據(jù)制造商的規(guī)格驗(yàn)證大接觸電阻。不應(yīng)超過額定電流，建議在額定電流的10％下進(jìn)行測試。
應(yīng)根據(jù)制造商規(guī)范使用小直流測試電流
