安徽鍍層測(cè)厚儀THICK800A,天瑞儀器 

 
上照式
測(cè)試組件可升降
高精度移動(dòng)平臺(tái)
小孔準(zhǔn)直器
高分辨率探測(cè)器
可視化操作
自動(dòng)定位高度
自動(dòng)尋找光斑
鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)
良好的射線屏蔽
超大樣品倉(cāng)
測(cè)試口安全防護(hù)

 安徽鍍層測(cè)厚儀THICK800A,天瑞儀器 技術(shù)指標(biāo)
X射線激發(fā)源：5OKV/1000μA-鎢靶X光管及高壓電源
探測(cè)器及分辨率：SDD探測(cè)器，分辨率140±5eV
分析元素范圍：原子序數(shù)16（S）～92（U）
分析元素及層數(shù)：一次可同時(shí)分析多達(dá)24種元素及5層鍍層
分析厚度范圍：檢測(cè)覆蓋層厚度一般在50μm以內(nèi)
檢出限：鍍層金屬元素厚度薄可達(dá)0.005μm
定位精度：0.001mm
測(cè)量時(shí)間：10s及以上 
樣品平臺(tái)移動(dòng)范圍：120mm×120mm
樣品腔升降平臺(tái)移動(dòng)高度：0～150mm

儀器配置
硬件：主機(jī)壹臺(tái)，含下列主要部件
1.X光管                 2.半導(dǎo)體探測(cè)器
3.放大電路              4.高精度樣品移動(dòng)平臺(tái)
5.高清晰攝像頭          6.高壓系統(tǒng)
7.上照、開放式樣品腔    8.雙激光定位
9.玻璃屏蔽罩
軟件：天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0

工作環(huán)境要求
環(huán)境溫度要求：15℃～30℃
環(huán)境相對(duì)濕度：<70%
工作電源：交流220±5V
周圍不能有強(qiáng)電磁干擾