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X熒光金屬鍍層測(cè)厚儀

是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時(shí)，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)發(fā)射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測(cè)器探測(cè)到這些特征X射線后，將其光信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號(hào)；經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)并送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理；計(jì)算機(jī)的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理測(cè)定出被測(cè)鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。

X熒光金屬鍍層測(cè)厚儀能檢測(cè)出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預(yù)處理；分析時(shí)間短，僅為數(shù)十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm。

我公司集中了國內(nèi)的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開發(fā)及生產(chǎn)技術(shù)人員，依靠科學(xué)研究，總結(jié)多年的現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，結(jié)合中國的特色，開發(fā)生產(chǎn)出的THICK-900系列X熒光鍍層測(cè)厚儀具有快速、、簡(jiǎn)便、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn)，廣泛用于鍍層厚度的測(cè)量、電鍍液濃度的測(cè)量。

THICK800系列X熒光鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域:

塑料制品工業(yè)鍍層、電子材料鍍層（接插件、半導(dǎo)體、線路板、電容器等）、鋼鐵材料鍍層（鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、表面處理鋼板等）、有色金屬材料鍍層（銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等）、其它各種鍍層厚度的測(cè)量及成分分析。

1.銅上鍍金單鍍層厚度測(cè)量鐵、銅等材料上鍍金的金厚度測(cè)量是工業(yè)中常見的，利用Thick-900系列X熒光鍍層測(cè)厚儀可以獲得很

的結(jié)果。

熒光厚度與已知厚度樣品結(jié)果對(duì)比：

2.銅上鍍鎳再鍍金的雙鍍層厚度測(cè)量鐵、銅等材料上先鍍鎳再鍍金的厚度測(cè)量也是工業(yè)中常見的，見下表：

3.儀器穩(wěn)定性評(píng)定

單鍍層Ni/Cu穩(wěn)定性測(cè)定：連續(xù)測(cè)定20次，計(jì)算其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差，均能達(dá)到很好的效果。