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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
內(nèi)容：
主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產(chǎn)品進(jìn)行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監(jiān)督檢驗。
儀器符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦流法》。
天星渦流測厚儀自1993年開始生產(chǎn)以來，伴隨著我國鋁加工行業(yè)的成長，其自身也在不斷改進(jìn)和提高，目前其產(chǎn)品質(zhì)量和測試精度達(dá)到國外儀器水平，其耐用性非常突出，超過國內(nèi)外儀器。天星測厚儀以良好的質(zhì)量，及時、優(yōu)質(zhì)、低費用的售后服務(wù)得到用戶的廣泛贊譽和認(rèn)可，天星測厚儀在鋁型材行業(yè)的*超過90%，成為該行業(yè)的產(chǎn)品。
儀器特點
﹡ 量程寬 ED400型渦流測厚儀量程達(dá)到0～500μm。
﹡ 精度高 測量精度達(dá)到2%。
﹡ 分辨率高 分辨率達(dá)到0.1μm。
﹡ 校正簡便 只校正“0”和“50μm”兩點，即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計精度。
﹡ 基體導(dǎo)電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量誤差不大于1～2μm。
﹡ 可靠性提高 采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性提高。
﹡ 穩(wěn)定性提高 采用*的溫度補償技術(shù)，測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。
﹡ 探頭芯壽命長 采用高強(qiáng)度磁芯材料，微調(diào)了探頭設(shè)計，探頭芯壽命可大大延長。
技術(shù)參數(shù)
測量范圍： 0～500μm
測量精度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分 辨 率： 0～50μm：0.1μm；
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可選）
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 280g