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| 產(chǎn)地類別 | 進口 |
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是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達10至60µm。短時間內(nèi)就可形成高強度聚焦射線。是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計的。該系
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
FISCHERXDV-μwafer測量儀 FISCHERXDV-μwafer測量儀 FISCHERXDV-μwafer測量儀
FISCHERXDV-μwafer測量儀 FISCHERXDV-μwafer測量儀 FISCHERXDV-μwafer測量儀
- 在納米范圍內(nèi)測量復(fù)雜鍍層系統(tǒng)，如引線框架上Au/Pd/Ni/CuFe的鍍層厚度
- 對最大12英寸直徑的晶圓進行全自動的質(zhì)量監(jiān)控
- 在納米范圍內(nèi)測量金屬化層（凸塊下金屬化層
- 在納米范圍內(nèi)測量復(fù)雜鍍層系統(tǒng)，如引線框架上Au/Pd/Ni/CuFe的鍍層厚度
- 對最大12英寸直徑的晶圓進行全自動的質(zhì)量監(jiān)控
- 在納米范圍內(nèi)測量金屬化層（凸塊下金屬化層
瑞軒電子科技（上海）有限公司-------國內(nèi)*儀器儀表供應(yīng)商
是全國儀器儀表行業(yè)“產(chǎn)品研發(fā)、銷售、技術(shù)培訓(xùn)、設(shè)備維修”為一體供應(yīng)商
公司主要經(jīng)營：
一、傳感與測量儀器 （GE druck, GE Panametrics,GE Bently,Wika,HBM,Tektronix,BEAMEX,SIKA,E+E等進口品牌)
二、氣體檢測儀（美國華瑞RAE,梅思安MSA，德爾格Draeger等進口品牌)
三、實驗室儀器（德國IKA，美國奧豪斯，上海一恒，中科中佳，上海安亭，湖南湘儀等品牌）
四、水質(zhì)檢測儀（美國哈希hach,安捷倫等品牌）
五、氣動液壓元件（派克Parker,阿托斯Atos,力士樂Rexroth,哈威Hawe等品牌）
六、無損檢測儀（德國KK，日本新寶，中國臺灣泰仕，德國卡爾德意志等品牌）