功能特點(diǎn)：

1、便攜式局部放電檢測儀設(shè)備采用大屏幕示波管，屏幕有效工作面積100×80ｍｍ，可清晰地觀測放電波形。

2、具有A、B、C三通道試驗(yàn)接口，試驗(yàn)更方便。

3、采用雙表頭顯示放電量，既有數(shù)字表顯示PC值，同時(shí)又有指針表頭顯示PC值，指針表可分線性和對數(shù)指示。

4、機(jī)內(nèi)噪聲小，檢測靈敏度高，電容覆蓋范圍大，適用試品范圍廣。

5、體積小，重量輕，便于攜帶。

技術(shù)指標(biāo):

1、便攜式局部放電檢測儀設(shè)備可測試品的范圍6PF--250uF

2、檢測靈敏度0.02PC

3、放大器頻帶:

   (1)低端:10KHZ、20KHZ、40KHZ任選
   (2):80KHZ、200KHZ、300KHZ任選

4、放大器增益調(diào)節(jié):
   粗調(diào)六檔，檔間增益20db；細(xì)調(diào)范圍＞20db。

5、時(shí)間窗:
   (1)窗寬:可調(diào)范圍15°－150°
   (2)窗位置:每一窗可旋轉(zhuǎn)0°－170°
   (3)兩個(gè)時(shí)間窗可分別開或同時(shí)開

6、放電量表:
   (1)指針式表頭:
      對數(shù)刻度1-10-10*＜5％(以滿刻度計(jì))
      線性刻度0－1000 誤差＜5％(以滿刻度計(jì))
   (2)數(shù)字式表頭:
      以3位半LED數(shù)字表顯示0－100
      誤差＜5％

7、橢圓時(shí)基:
   (1)頻率50HZ、100HZ、150HZ、200HZ、400HZ
   (2)橢圓旋轉(zhuǎn):以30°為一檔，可作120°旋轉(zhuǎn)
   (3)顯示方式:橢圓--直線
   (4)高頻時(shí)基橢圓可按輸入電壓(13V－275V)
      調(diào)節(jié)至正常大小，其攝取功率＜1伏安

8、試驗(yàn)電壓表:
   (1)量程:100KV(可擴(kuò)展)
   (2)顯示:3位半數(shù)字電壓表指示
   (3)精度:優(yōu)于5％

9、內(nèi).外零標(biāo)功能

10、電源電壓
    220V輸入

工作原理：

若試品在試驗(yàn)電壓下產(chǎn)生局部放電時(shí)，經(jīng)耦合電容產(chǎn)生脈沖電流，由輸入單元拾取得脈沖訊號，經(jīng)低噪聲前置放大、濾波放大器選擇所需頻帶及主放放大后，在示波屏的橢圓掃描基線上顯示出放電脈沖，同時(shí)也送到脈沖峰值表（對數(shù)表）顯示其峰值。時(shí)間窗單元控制試驗(yàn)電壓每一周期內(nèi)脈沖峰值表的工作時(shí)間，并在這段時(shí)間內(nèi)將顯示屏的顯示加亮，寬度與位置可以改變，進(jìn)一步加強(qiáng)了抗*力。

使用方法：

1. 在試驗(yàn)開始加壓以前，試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯(cuò)。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線被腳踢斷，這將可能引起人身和設(shè)備事故。

2．對于連接線應(yīng)避免將*暴露在外，防止*電暈放電，尤其對于電壓等級較高的局部放電試驗(yàn)，必要時(shí)要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩，減小因場強(qiáng)過高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。

3. 一般情況下，在試驗(yàn)過程中，被試品在耐壓、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多，此時(shí)儀器的儀表必然會超出滿刻度。為防止儀器損壞，應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以不超出滿刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測量電壓時(shí)，再將增益粗調(diào)開關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以便記錄測量值。

4. 校正電量發(fā)生器校正完畢后，一定要從高壓端脫離，并關(guān)閉電源開關(guān)，且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍，且檔位有指示，故升壓后根據(jù)放電量大小，可選擇合適量程。逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí)，每降一檔量程擴(kuò)大十倍；反之，順時(shí)針時(shí)，量程縮小十倍。

5. 局部放電測試儀試驗(yàn)完畢后，應(yīng)對整個(gè)測試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正，驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等，以免測試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過程中發(fā)生故障而使測試結(jié)果不對。