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一、概述

建研華測（杭州）科技有限公司推出的HC-OMS2非接觸光學(xué)變形綜合測量系統(tǒng)，是結(jié)合數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)（DIC）與雙目立體視覺的一種非接觸測量技術(shù)，主要原理是通過雙目立體視覺方法，通過獲取物體表面變形前后的數(shù)字散斑圖像，追蹤散斑位置和形狀的變化，實(shí)現(xiàn)變形過程中物體表面位移及應(yīng)變的測量。本產(chǎn)品獲得多項(xiàng)自主知識產(chǎn)權(quán)，多項(xiàng)指標(biāo)和整機(jī)處于水平，具有精度高、速度快、易于操作、非接觸以及全場數(shù)據(jù)測量的優(yōu)勢。

主要功能

◆實(shí)時精確測量二維和三維參數(shù)

◆位移、應(yīng)變、泊松比等，應(yīng)力/應(yīng)變曲線、彈性模量（力信號接入）

◆實(shí)時測量多個目標(biāo)點(diǎn)，橫縱向均可測量 

◆同步測量多個參數(shù)，比如： 同時測量位移、變形、泊松比等 

◆拍攝實(shí)驗(yàn)過程， 后期可對錄像進(jìn)行再分析

二、性能特點(diǎn)

• 簡單便捷

測量所需前期準(zhǔn)備簡單，只需保證被測試件表面具有灰度隨機(jī)變化散斑或者標(biāo)記點(diǎn)。如無明顯特征， 標(biāo)記筆做形狀各異的顏色標(biāo)記，或?qū)Ρ槐砻鎳娖岙a(chǎn)生隨機(jī)分布的黑白斑點(diǎn)；視頻引伸計(jì)的測量簡單，將相機(jī)正對著表面有散斑圖案的試驗(yàn)件后，即可在圖像中任意一測量區(qū)域或一系列的目標(biāo)點(diǎn)，隨后分析軟件將實(shí)時、準(zhǔn)確跟蹤視頻中這些目標(biāo)點(diǎn)在不同視頻圖像中的亞像素位置，并根據(jù)已獲得的位移實(shí)時計(jì)算應(yīng)變以及其它信息。

• 非接觸、全場測量

作為一種非接觸的光學(xué)測量方法，視頻引伸計(jì)避免了應(yīng)變電測法中在被測試件上粘貼應(yīng)變片的繁瑣過程。視頻引伸計(jì)可以同時獲得圖像中任意多個點(diǎn)的位移和變形信息，相當(dāng)于安裝幾百甚至幾萬個位移計(jì)和應(yīng)變片和引伸計(jì)，可清晰觀察到位移和應(yīng)變變化。

• 適用測量范圍廣泛

通過實(shí)時分析 CCD 相機(jī)拍攝表面的視頻圖像進(jìn)行位移和應(yīng)變場的測量，測量范圍從幾毫米到數(shù)十米，應(yīng)變范圍從微米級到毫米級，對測量環(huán)境和測量物的材料和幾何形狀沒有任何限制。適用于尺寸極小、超大的物體；極低溫、超高溫環(huán)境等。

三、技術(shù)參數(shù)

• 相機(jī)像素：500萬像素；相機(jī)幀率：25幀； 鏡頭：25mm；
• 位移測量精度0.001mm—0.01mm；
• 應(yīng)變測量精度：0.01%； 
• 標(biāo)記工具：散斑制備或者標(biāo)記點(diǎn)；
• 支架：云臺和三腳架
• 可利用現(xiàn)有設(shè)備升級為三維測量系統(tǒng)；
• 采集圖像同時分析點(diǎn)信息，增加散斑計(jì)算模塊也可進(jìn)行全場應(yīng)變計(jì)算；散斑支持矩形和任意四邊形選擇，支持多種數(shù)據(jù)插值；
• 支持曲線繪制、視頻創(chuàng)建、報告輸出等功能； 
• 支持多相機(jī)組同步測量，可以同步測量多個區(qū)域的變形應(yīng)變；
• 分析創(chuàng)建功能：點(diǎn)點(diǎn)距離、點(diǎn)線距離、點(diǎn)面距離等； 支持點(diǎn)數(shù)據(jù)分析。