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奧林巴斯金相顯微鏡BX41M

BX41M-LED 擁有ESD 防靜電功能，可以保護(hù)電子設(shè)備免受靜電、人體及實(shí)驗(yàn)室內(nèi)的周邊環(huán)境或商店地面中的靜電的影響

暗視場(chǎng)觀察法

 表面安裝板

暗視場(chǎng)可以讓用戶觀察來自樣本散射和衍射的光線。光源的光線會(huì)先穿過照明裝置中的環(huán)形光學(xué)照明器件，然后在樣本上聚焦。樣本上的光線只是由Z 軸上的瑕疵反射形成的。因此，用戶可以觀測(cè)到比光學(xué)顯微鏡分辨極限更小的、8 nm 級(jí)的微小劃痕和缺陷。暗視場(chǎng)適合檢測(cè)樣本上的微小劃痕及瑕疵和檢查表面光滑的樣本，包括晶圓。

奧林巴斯BX41M-LED金相顯微鏡 偏振光觀察法

石棉

該顯微觀察技術(shù)所使用的偏振光是由一組濾鏡（檢偏振器和起偏振器）產(chǎn)生的。樣本特征會(huì)直接影響系統(tǒng)反射光的強(qiáng)度。該觀察法適用于觀察金相組織（例，球墨鑄鐵中石墨的生長(zhǎng)圖案）、礦物、LCD 和半導(dǎo)體材料。

微分干涉（DIC）觀察法

磁頭

奧林巴斯金相顯微鏡BX41M

DIC 是一種顯微觀察技術(shù)，可以將明視場(chǎng)觀察法中無法檢測(cè)到的高度差異，用增強(qiáng)的對(duì)比度以浮雕或三維圖像的形式表現(xiàn)出來。該項(xiàng)基于偏振光的技術(shù)，擁有三個(gè)專門設(shè)計(jì)的棱鏡可供選擇以滿足用戶的需求。該觀察法適用于檢測(cè)高度差異極其微小的樣本，包括金相組織、礦物、磁頭研磨面和硬盤表面及晶圓研磨面。

熒光觀察法

半導(dǎo)體晶圓上的顆粒

該項(xiàng)技術(shù)適用于觀察那些在受到專門設(shè)計(jì)的濾鏡（可以按照檢測(cè)需要制作）照明時(shí)會(huì)發(fā)出熒光（發(fā)出不同波長(zhǎng)的光線）的樣本。該方法通過熒光染色，應(yīng)用于觀測(cè)半導(dǎo)體晶圓表面的污物、抗蝕劑的殘?jiān)土押鄣臋z測(cè)?？梢蕴砑舆x購的復(fù)消色差光源聚光透鏡系統(tǒng)，從而為可見光到近紅外線范圍內(nèi)的色差進(jìn)行補(bǔ)償。

IR（紅外線）觀察法

硅晶片層下的半導(dǎo)體電路

對(duì)使用了硅片、玻璃等易透射紅外線的電子設(shè)備的內(nèi)部進(jìn)行無損檢測(cè)時(shí)，IR 觀察十分有效。IR 物鏡也可用于近紅外線技術(shù)，如：拉曼光譜儀和YGA 激光修復(fù)應(yīng)用。

處理濾鏡

枝晶

OLYMPUS Stream 擁有各種濾鏡，可用于邊緣檢測(cè)、平滑處理和其它操作。使用處理濾鏡在拍攝的圖像上進(jìn)行增強(qiáng)和修改處理后，圖像的特征變?yōu)榭梢暬?。為達(dá)到效果，可使用預(yù)覽圖檢查或調(diào)整濾鏡的效果。

透射光觀察法

LCD彩色濾鏡

對(duì)于透明樣本，如，LCD、塑料和玻璃材料，可通過使用各種透射光聚光鏡實(shí)現(xiàn)真正的透射光觀察。使用透射光可以在明視場(chǎng)、暗視場(chǎng)、DIC 和偏振光中對(duì)樣本進(jìn)行成像和檢查--所有這些都在一個(gè)便捷的系統(tǒng)里。

自動(dòng)制作3D 圖像（EFI）

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