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嵌入式膜厚檢測儀

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  • 嵌入式膜厚檢測儀
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參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號 FE-3
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 蘇州市
在線詢價 收藏產(chǎn)品

更新時間：2020-06-12 16:14:31瀏覽次數(shù)：937

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 20萬-50萬
應用領域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子,印刷包裝,電氣
嵌入式膜厚檢測儀可高精度測量具有波長依存性的多層膜！通過光纖靈活構(gòu)筑測量系統(tǒng)。支持遠程測量、多點測量。

詳細介紹

嵌入式膜厚檢測儀 FE-3

嵌入式膜厚檢測儀可高精度測量具有波長依存性的多層膜！

 

產(chǎn)品信息

特　點

•采用分光干涉法

•搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)

•使用光學光纖，可靈活構(gòu)筑測量系統(tǒng)

•可嵌入至各種制造設備。

•實時測量膜厚

•可對應遠程操作、多點測量

•采用壽命長、安全性高的白色LED光源

測量項目

·多層膜厚解析

用　途

•光學薄膜（超硬涂層、AR薄膜、ITO等）

•FPD相關（光刻膠、SOI、SiO2等）

設備構(gòu)成

單點型

•半導體晶圓的面內(nèi)分布測量

•玻璃基板的面內(nèi)分布測量

多點型

•實時測量

•流向品質(zhì)管理

•真空室適用

導線型

•實時測量

•寬度方向品質(zhì)管理

測量案例

超硬涂層的膜厚解析

 

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