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光學非接觸式小直徑內(nèi)徑測量儀IDM的運用
閱讀：1842 發(fā)布時間：2022-1-18光學非接觸式小直徑內(nèi)徑測量儀IDM的運用
小內(nèi)徑測量機
IDM-30EX / 100EX
任何人都可以立即進行高精度和高速測量。
[易于與 EX 系統(tǒng)對齊。非常適合校準環(huán)規(guī)和剪刀規(guī)。]
利用
小直徑內(nèi)徑測量儀IDM是一種光學非接觸式測量儀器，可以處理各種測量。
- 除了測量環(huán)的內(nèi)徑外，它還可以應用于孔距、垂直度、錐度、方孔和狹縫。此外，可以測量內(nèi)徑和外徑的同軸度。
- 可用于客戶擁有的母版儀的內(nèi)部校準。
特征
-測量范圍最小為 φ0.1 毫米，最大為 Φ100 毫米。
? 分辨率 0.01 μm（選項）
? .非接觸式測量不會損壞工件。
- 易于對齊，無需測量技能。
-配備溫度補償系統(tǒng)，自動轉(zhuǎn)換為20°C時的測量值。