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可視化晶體板內(nèi)部條紋檢測(cè)技術(shù)
閱讀：1044 發(fā)布時(shí)間：2022-8-22可視化晶體板內(nèi)部條紋檢測(cè)技術(shù)
一種在監(jiān)視器上目視觀察光學(xué)元件光學(xué)不均勻性的裝置
該檢查裝置是一種可視化晶體板和玻璃等透明物體內(nèi)部的條紋，以及表面上的拋光不均勻和拋光痕跡的裝置。非常適合檢查低通濾光片和藍(lán)色濾光片的晶體板。
在觀察到的圖像的背景中有一個(gè)微弱的斑點(diǎn)圖案。這是由于安裝的透鏡等光學(xué)元件的表面拋光，并干擾觀察。專用軟件“ClearBack"使背景清晰，便于檢查。在折射率變化的可視化裝置中有一種稱為紋影法的觀察方法，但該裝置的觀察方法是陰影圖法。避免刀口干擾造成圖像模糊。
| 檢查方法 | shadowgraph 方法，顧名思義，就是一個(gè)“陰影圖片"。從點(diǎn)光源發(fā)出的光被一個(gè)鏡頭準(zhǔn)直，被下一個(gè)鏡頭會(huì)聚，然后被拍攝。這里，如果在兩個(gè)透鏡之間放置有條紋等缺陷的樣品，平行光會(huì)受到干擾，圖像會(huì)出現(xiàn)亮度不均勻的區(qū)域。 |
|---|---|
| 觀察范圍 | 約φ45mm |
| 光源 | 高亮度藍(lán)色LED |
| 測(cè)量波長(zhǎng) | 450-465nm |
| 有效像素 | 1080(H)×824(V) |
| 調(diào)光功能 | 音量調(diào)光 |
| 外形尺寸（本體） | 水平（標(biāo)準(zhǔn)）W1030 x D160 x H205mm 垂直（可選）W380 x D455 x H1245mm |
| 重量（身體） | 29公斤 |
| 憲法 | 機(jī)身/PC/電纜 |
| 配件 | 樣品架/機(jī)身蓋 |
| 選項(xiàng) | 立式支架（重量：10kg） |
| 使用環(huán)境 | 10 至 35 攝氏度 濕度 20 至 80%（非冷凝） |
| 顯示器最大分辨率 | 1920 x 1200（24 英寸寬） |
| 操作系統(tǒng) | 視窗 10（64 位） |
| 軟件 | 專用軟件“ClearBack" 通過校正不均勻的圖像亮度，使背景均勻，便于檢查缺陷。 |