目錄:山東霍爾德電子科技有限公司>>物理試驗(yàn)儀器>>粒度分析儀>> HD-JL800G激光粒度儀
參考價(jià) | ¥ 62500 |
訂貨量 | ≥1臺(tái) |
¥62500 |
≥1臺(tái) |
更新時(shí)間:2024-09-03 16:53:38瀏覽次數(shù):403評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 分散方式 | 干濕法分散 |
---|---|---|---|
價(jià)格區(qū)間 | 1萬(wàn)-5萬(wàn) | 儀器種類(lèi) | 激光光阻法 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),制藥,綜合 |
激光粒度儀采用國(guó)際很先進(jìn)的Mie氏散射原理和正反傅立葉變換光路,傅里葉準(zhǔn)直鏡頭+濾波鏡頭+標(biāo)準(zhǔn)傅里葉變換鏡頭三鏡頭技術(shù)的采用保證了儀器的測(cè)量精度,高密度陣列探頭及全量程無(wú)縫銜接測(cè)試方法,保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。獨(dú)別的干法進(jìn)樣分散系統(tǒng)采取了管道無(wú)殘留設(shè)計(jì),保證顆粒測(cè)試過(guò)程中無(wú)顆粒沉積現(xiàn)象,不但證了測(cè)試不同樣品的準(zhǔn)確性,還保證了第二次測(cè)試精度。測(cè)試過(guò)程全部自動(dòng)完成無(wú)需任何手動(dòng)操作,測(cè)試結(jié)果更加穩(wěn)定﹑準(zhǔn)確、可靠。
適用范圍:
激光粒度分析儀(濕法)被廣泛應(yīng)用于各種金屬、非金屬粉︰如重鈣、輕鈣、滑石粉、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤(rùn)土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸錯(cuò)、氧化錯(cuò)、氧化鎂、氧化鋅、河流泥沙、鋰電池材料、催化劑、熒光粉、水泥、磨料、醫(yī)藥、農(nóng)藥、食品、涂料、染料、陶瓷原料、化工材料、納米材料、造紙?zhí)盍贤苛?、各種粉末類(lèi)樣品。
激光粒度儀產(chǎn)品特點(diǎn):
1、激光智能管理系統(tǒng)——儀器使用先進(jìn)的激光智能管理系統(tǒng),實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀器的工作狀態(tài),一旦接收到工作的命令智能管理系統(tǒng)會(huì)瞬間點(diǎn)亮激光器,高性能激光器會(huì)在3秒內(nèi)達(dá)到穩(wěn)定的工作狀態(tài)。樣品測(cè)試完畢后智能管理系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)關(guān)閉激光器,激光器基本上不會(huì)衰減,理論上粒度儀可以終身不需要更換激光器。
2、全智能操作模式——惇點(diǎn)擊自動(dòng)測(cè)試(可編輯)即可自動(dòng)完成吸塵、供氣、背景采集、樣品分散、采集測(cè)量數(shù)據(jù)、保存、高壓吹掃等所有功能,操作人員只需放待測(cè)樣品,測(cè)試結(jié)果不受人為因素影響。
3、誤操作保護(hù)功能——儀器具有誤操作儀器無(wú)響應(yīng)功能,手動(dòng)測(cè)試儀器對(duì)錯(cuò)誤的命令無(wú)響應(yīng)。自動(dòng)加注分散劑功能——部分樣品具有較強(qiáng)的團(tuán)聚性,需加某些特定的分散劑,人工加注或多或少無(wú)法定量,自動(dòng)加注系統(tǒng)會(huì)按需定量加注分散劑,測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定準(zhǔn)確。
4、三鏡頭技術(shù)——傅里葉準(zhǔn)直鏡頭+濾波鏡頭+標(biāo)準(zhǔn)傅里葉變換鏡頭單光路三鏡頭技術(shù)的采用,可有效的過(guò)濾掉光信號(hào)非必要的雜散光,可獲取到更純凈的光學(xué)背景,提高測(cè)量靈敏度。
5、超高速主板——超高速主板,16bit.200kbs的采樣速度,樣品在激光光束中0.1s即可得出準(zhǔn)確結(jié)果。
6、特別的干法分散系統(tǒng)——分散系統(tǒng)在法國(guó)理論數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì),使儀器對(duì)干粉的分散更加均勻,很強(qiáng)的負(fù)壓保證了進(jìn)料的連續(xù)性及均勻性,有效避免測(cè)試過(guò)程中干粉的相互粘連。
7、樣品無(wú)殘留設(shè)計(jì)——儀器管道及排水結(jié)構(gòu)進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì),儀器管道、分散采用技術(shù)無(wú)殘留設(shè)計(jì),避免對(duì)下一次測(cè)試數(shù)據(jù)的影響。
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