澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 參考價(jià)：面議
澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化
澤攸ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機(jī) 參考價(jià)：面議
澤攸ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、集成式oxford能...
澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：600000
澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調(diào)節(jié)光闌。
澤攸ZEM18臺式掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：450000
澤攸ZEM18臺式掃描電子顯微鏡信號采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，無重影、拖影，不錯過每一個細(xì)節(jié)。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺（拉伸...
澤攸ZEM15臺式掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：350000
▲ 即插即用：用戶可以快速使用，無需復(fù)雜的安裝過程?！?體積小巧：便于放置在普通的實(shí)驗(yàn)臺面上，節(jié)省空間?！?高性價(jià)比：預(yù)對中鎢燈絲設(shè)計(jì)，用戶可以自行更換，降低了...
PicoFemto透射電鏡多孔樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡多孔樣品桿，多孔樣品桿使研究者們可以將三個樣品同時(shí)置入透射電鏡中，大大提高了透射電鏡的使用效率。
PicoFemto透射電鏡真空轉(zhuǎn)移樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡真空轉(zhuǎn)移樣品桿，樣采用可伸縮的樣品桿端頭設(shè)計(jì)，從而實(shí)現(xiàn)將樣品從真空室或手套箱的真空環(huán)境下轉(zhuǎn)移到透射電鏡內(nèi)的目的，避免樣品被大氣環(huán)境影響...
PicoFemto透射電鏡TEM冷凍樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡TEM冷凍樣品桿，TEM冷凍樣品桿可以使被觀測樣品處于液氮低溫下，減弱了電子束輻照對樣品的損傷，同時(shí)也能研究材料的低溫結(jié)構(gòu)。
PicoFemto透射電鏡360°水平旋轉(zhuǎn)樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡360°水平旋轉(zhuǎn)樣品桿，同時(shí)具備β角傾轉(zhuǎn)以及360水平旋轉(zhuǎn)的功能，可以在透射電子顯微鏡中多自由度高精度旋轉(zhuǎn)樣品。
PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對材料施加拉力，結(jié)合透射電鏡原位觀察材料結(jié)構(gòu)的變化。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測量 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡是提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì),更易封裝液體。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)PicoFemto透射電鏡原位M。EMS氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實(shí)現(xiàn)1 B...
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng)PicoFemto透射電子顯微鏡原位TEM-ST...
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng)PicoFemto透射電子顯微鏡原位TEM-STM測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針...
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量,
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
PicoFemto掃描電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量 參考價(jià)：面議
PicoFemto掃描電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量系統(tǒng)，將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環(huán)境并且可以對實(shí)驗(yàn)樣品原位...
原位拉伸-掃描電鏡 參考價(jià)：面議
ZEM15原位拉伸掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化產(chǎn)品介紹ZEM15原位...
SEM冷凍真空傳輸系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
SEM冷凍真空傳輸系統(tǒng)高匹配360°(無限)旋轉(zhuǎn)冷臺，冷臺傾轉(zhuǎn)角度55°，冷臺溫度≤180℃。
SEM熱電芯片臺 參考價(jià)：面議
SEM熱電芯片臺可搭配電學(xué)測試，兼容型號掃描電鏡，芯片兼容TEM-MEMS原位芯片樣品桿。
PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場耦合研究。
PicoFemto掃描電鏡原位光電力一體化系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto掃描電鏡原位光電力一體化系統(tǒng)，集成了掃描探針控制單元，可在三維空間內(nèi)對電學(xué)探針與光纖探針進(jìn)行亞納米級別精度的操縱與定位。(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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