RohdeSchwarz無(wú)線電綜測(cè)儀按鍵無(wú)反應(yīng)維修可測(cè)試 0.2Tr相放置和0.5Tr相放置的情況，可以使用分別設(shè)置為60mil，240mil和600mil的單端傳輸線長(zhǎng)度來(lái)模擬該電路，圖5和圖6顯示了經(jīng)過(guò)4次的差分信號(hào)波形和共模信號(hào)波形，相對(duì)延遲不同的差分信號(hào)波形手推車基于圖5。 然后，控制子系統(tǒng)對(duì)缺陷進(jìn)行判斷，并通過(guò)沿前后方向沿直線移動(dòng)檢查站進(jìn)行掃描，以便圖像傳感器可以獲得2D圖像輸出信號(hào)，可以實(shí)時(shí)在油墨中的無(wú)線電綜合測(cè)試儀缺陷上進(jìn)行標(biāo)記，而在頻繁施加負(fù)載的情況下，絕緣值減小到5kΩ。無(wú)線電綜測(cè)儀電源問(wèn)題可能發(fā)生在初級(jí)或次級(jí)部分。即使任何無(wú)線電綜測(cè)儀電路的遠(yuǎn)部分出現(xiàn)一些問(wèn)題，例如監(jiān)視器彩色電路板中的 ic 或晶體管短路，電源也可能無(wú)法工作或只是閃爍。有多種排除無(wú)線電綜測(cè)儀電源故障的方法；我將解釋我的修復(fù)方法之一。每當(dāng)電源送修時(shí)，無(wú)論是顯示器開關(guān)電源還是計(jì)算機(jī)Atx電源，我都會(huì)在打開外殼之前先測(cè)試電源。電源問(wèn)題可分為無(wú)電、輸出功率低、有時(shí)或一次開機(jī)后斷電、電源閃爍和輸出電壓偏高。無(wú)論出現(xiàn)什么問(wèn)題，我都會(huì)使用標(biāo)準(zhǔn)程序方法來(lái)測(cè)試它。

通孔邊緣會(huì)露出銅，b，在插入阻焊層的通孔中無(wú)法獲得平坦度，并且BGA封裝的阻焊層油不均勻，C，在使用HASL(熱風(fēng)焊料調(diào)平)表面處理后，孔徑阻焊劑油會(huì)出現(xiàn)氣泡并脫落，問(wèn)題原因和改進(jìn)措施問(wèn)題#阻焊劑堵塞會(huì)導(dǎo)致填充不良。助焊劑通常會(huì)由于毛細(xì)作用或助焊劑的潤(rùn)濕性而流到?jīng)]有錫覆蓋的區(qū)域。

RohdeSchwarz無(wú)線電綜測(cè)儀按鍵無(wú)反應(yīng)維修可測(cè)試

-檢查無(wú)線電綜測(cè)儀開關(guān)，保險(xiǎn)絲并放電大濾波電容器-如果保險(xiǎn)絲燒成深色，則電源部分可能會(huì)嚴(yán)重短路。它可能是短路的橋式整流器、短路的功率晶體管甚至是短路的電源 IC。不要低估開關(guān)電源變壓器繞組短路的可能。如果保險(xiǎn)絲只是輕微撕裂，可能是保險(xiǎn)絲本身?yè)p壞了，因?yàn)楸ｋU(xiǎn)絲也是有壽命的。大多數(shù)情況下，只更換保險(xiǎn)絲即可解決無(wú)電源現(xiàn)象。
- 確保所有次無(wú)器件都在工作。您可以移除其中一根元器件引線以進(jìn)行準(zhǔn)確檢查，也可以使用本文所述的反激測(cè)試儀。
- 如果您修理顯示器，請(qǐng)檢查水平輸出晶體管、b+ FET 和反激變壓器。任何時(shí)候，如果這些組件中的任何一個(gè)出現(xiàn) 故障，都會(huì)影響電源功能。單擊藍(lán)色鏈接可以讀取 測(cè)試 FET 和反激變壓器。
- 用esr測(cè)試儀檢查初級(jí)和次級(jí)部分的所有無(wú)線電綜測(cè)儀電解電容器- 如果電源部分（初級(jí)或次級(jí)區(qū)域）有一些電解電容器故障，電源會(huì)閃爍，產(chǎn)生低輸出功率或*沒(méi)有電！
- 用反激式測(cè)試儀測(cè)試無(wú)線電綜測(cè)儀開關(guān)電源變壓器的初級(jí)繞組。如果您修理顯示器，還要檢查反激式初級(jí)繞組、b+ 線圈繞組和水平軛線圈。其中一個(gè)線圈短路會(huì)導(dǎo)致電源關(guān)閉、閃爍和斷電。

路由布線是在基本布局之后進(jìn)行的，分為詳細(xì)布線和整體布線，前者是指電路中不同模塊內(nèi)部的布線，盡管詳細(xì)的布線可能在IC設(shè)計(jì)中進(jìn)行。無(wú)鉛4)，能夠進(jìn)行多次焊接，5)，工作溫度低，6)，成本相對(duì)較低，，新型表面處理隨著無(wú)線電綜合測(cè)試儀向高密度和高性能發(fā)展，目前的某些表面光潔度無(wú)法滿足所有要求。

由于高速電路時(shí)鐘信號(hào)頻率相對(duì)較高，因此抖動(dòng)，漂移和變形會(huì)嚴(yán)重影響系統(tǒng)，因此高速無(wú)線電綜合測(cè)試儀設(shè)計(jì)需要較小的信號(hào)波干擾，因此，首先應(yīng)考慮時(shí)鐘分配和路由的問(wèn)題，在高速時(shí)鐘信號(hào)上實(shí)施布線。包括Dk/Df測(cè)試和識(shí)別，銅箔粗糙度的混合應(yīng)用，信號(hào)完整性和測(cè)試，此外，在選材過(guò)程中，無(wú)線電綜合測(cè)試儀成本。

RohdeSchwarz無(wú)線電綜測(cè)儀按鍵無(wú)反應(yīng)維修可測(cè)試 COB涉及直接將集成電路安裝到無(wú)線電綜合測(cè)試儀上。而不是行封裝，COB在批量生產(chǎn)的小工具和玩具中很常見，可以通過(guò)無(wú)線電綜合測(cè)試儀上的黑色塑料小球(稱為小球頂部)來(lái)識(shí)別，在球形下方，芯片通過(guò)細(xì)線連接到板上。種方法是在35μm，25μm，15μm到10μm的干膜抗蝕劑薄膜上應(yīng)用，種方法在于濕膜(液體可成像的抗蝕劑)的應(yīng)用。oiwhefgwerger