當(dāng)前位置:濟(jì)南微納顆粒儀器股份有限公司>>技術(shù)文章>>顆粒大小的一般分類及常用測定方法的比較
顆粒大小的一般分類及常用測定方法的比較
有關(guān)顆粒大小的分類,一般地,“納米顆粒”指1-100nm尺度的顆粒;“微米顆粒”指1-1000微米的顆粒;“亞微米顆粒”指0.1-1微米的顆粒。“超細(xì)顆粒”是納米顆粒與亞微米顆粒的總稱;“細(xì)粉”指1-100微米的固體顆粒;“粗粉”指100-1000微米的固體顆粒;超過1000微米的特大顆粒則進(jìn)入塊狀物體的范疇了。
1.篩分 原理:依賴篩孔大小的機(jī)械分離作用。優(yōu)點(diǎn)是簡單直觀。動(dòng)態(tài)范圍較小,常用于大于40μm的顆粒測定。 缺點(diǎn):速度慢,一次只能測量一個(gè)篩余值,不足以反映粒度分布;微小篩孔制作困難;誤差大,通常達(dá)到10%-20%;小顆粒由于團(tuán)聚作用通過篩孔困難;有人為誤差,導(dǎo)致可信度下降。
2.沉降 原理:斯托克斯定律。缺點(diǎn):動(dòng)態(tài)范圍窄;小粒子沉降速度很慢,對非球型粒子誤差大;由于密度一致性差,不適用于混合物料;重力沉降儀適用于10微米以上的粉體,如果顆粒很細(xì)則需要離心沉降。
3.庫爾特電阻法 原理:顆粒通過小孔時(shí)產(chǎn)生的電阻脈沖計(jì)數(shù)。優(yōu)點(diǎn):可以測定顆??倲?shù),等效概念明確;操作簡便。缺點(diǎn):動(dòng)態(tài)范圍小,1:20左右;對介質(zhì)的電性能有嚴(yán)格要求;容易出現(xiàn)堵塞小孔現(xiàn)象。
4.顯微鏡法 原理:光學(xué)成像。優(yōu)點(diǎn):簡單直觀;可作形貌分析。缺點(diǎn):動(dòng)態(tài)范圍窄,1:20;測量時(shí)間長,約20分鐘;樣品制備操作較復(fù)雜;采樣的代表性差;對超細(xì)顆粒分散有一定的難度,受衍射極限的限制,無法檢測超細(xì)顆粒。
5.電鏡 原理:電子成像。優(yōu)點(diǎn):直觀;分辨率高。缺點(diǎn):取樣量少,沒有代表性,樣品制備操作復(fù)雜;儀器價(jià)格昂貴。
6.激光粒度儀 原理:激光衍射/散射。優(yōu)點(diǎn):測量速度快,約1分鐘;動(dòng)態(tài)范圍大,約1:1000以上;重復(fù)性好;準(zhǔn)確度高,分辨率高;操作簡便;可對動(dòng)態(tài)顆粒群進(jìn)行跟蹤測試分析,是目前的粒度儀,在很多場合可替代其他測量方法,是粒度儀發(fā)展的方向。