SRM 1976c是美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究院（NIST）發(fā)布的X射線粉末衍射（XRD）儀器校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品。這種標(biāo)準(zhǔn)品通常用于校準(zhǔn)X射線粉末衍射設(shè)備的線位置和強(qiáng)度，以確保設(shè)備在不同角度（如2θ角）下的測(cè)量準(zhǔn)確性。

具體來(lái)說(shuō)，SRM 1976cX射線粉末衍射標(biāo)準(zhǔn)品由一個(gè)燒結(jié)的氧化鋁圓盤(pán)組成，其直徑約為25.6毫米，厚度為2.2毫米。這種固體形式的SRM消除了由樣品加載過(guò)程引入的強(qiáng)度測(cè)量中的任何可變性，從而提高了校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性。

技術(shù)參數(shù)

名稱(chēng): SRM 1976c

類(lèi)別: X射線粉末衍射儀器響應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)

組成: 主要由燒結(jié)氧化鋁構(gòu)成

規(guī)格: 1張

存儲(chǔ)溫度: 環(huán)境溫度

使用說(shuō)明: 用于X射線粉末衍射設(shè)備的校準(zhǔn)和性能驗(yàn)證

表面特性: 高穩(wěn)定性，低X射線吸收率

適用設(shè)備: 適用于多種X射線衍射儀器

應(yīng)用場(chǎng)景

SRM 1976cX射線粉末衍射標(biāo)準(zhǔn)品廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)和教學(xué)等領(lǐng)域，特別是在材料科學(xué)、物理學(xué)和化學(xué)等學(xué)科中，用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu)、相組成等。

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