GB/T 2423系列標(biāo)準(zhǔn)為電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗方面的試驗標(biāo)準(zhǔn)，在這里可以查到我們環(huán)境試驗設(shè)備行業(yè)的幾乎所有標(biāo)準(zhǔn)，比如恒溫恒濕試驗箱、高低溫試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、快速溫變試驗箱的試驗標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)備技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

GB/T 2423.32-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ta: 潤濕稱量法可焊性

GB 2423.25-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z-AM低溫-低氣壓綜合試驗

GBT 2423.24-2013 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分  試驗方法 試驗Sa  模擬地面上的太陽輻射

GB/T 2423.39-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ee：彈跳

GB 2423.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Fd: 寬頻帶隨機振動 一般要求

GB/T 2423.57-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ei :沖擊 沖擊響應(yīng)譜合成

GB/T 2423.102-2008 電子電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）低氣壓振動（正弦）綜合 

GB/T 2423.8-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分 試驗方法 試驗Ed:自由跌落 

GB/T 2423.101-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：傾斜和搖擺 

GB/T 2423.58-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2-80部分 試驗方法 試驗Fi 振動 混合模式

GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)） 

GB/T 2423.43-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 振動、沖擊和類似動力學(xué)試驗樣品的安裝

GB/T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ka：鹽霧 

GB/T 2423.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Ga和導(dǎo)則 穩(wěn)態(tài)加速度

QB/T 2423-2008  聚氯乙烯(PVC)電氣絕緣壓敏膠粘帶

GB/T 2423.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc：振動（正弦）

GB/T 2423.9-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Cb :設(shè)備用恒定濕熱

GB/T 2423.52-2003 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗77：結(jié)構(gòu)強度與撞擊 

GB/T 2423.36-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分： 試驗方法 試驗Z/BFc： 散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 

GB/T 2423.34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗 

GB/T 2423.53-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Xb 由手的摩擦造成標(biāo)記和印刷文字的磨損

GB/T 2423.38-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗R：水試驗方法和導(dǎo)則

GB/T 2423.28-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分： 試驗方法 試驗T：錫焊

GB/T 2423.35-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/Afc： 散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗

GB/T 2423.33-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗Kca高濃度二氧化硫試驗

GB/T 2423.27-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分： 試驗方法 試驗Z/AMD： 低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗

GB/T 2423.22-2012 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分： 試驗方法 試驗n： 溫度變化 

GB/T 2423.18-2012 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗 試驗Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）

GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則： 碰撞 

GB/T 2423.55-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Eh：錘擊試驗 

GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則：沖擊 

GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db：交變濕熱試驗方法

GB/T 2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分： 試驗方法 試驗xa和導(dǎo)則：在清洗劑中浸漬

GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗 

GB/T 2423.16-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分： 試驗方法 試驗j和導(dǎo)則：長霉 

GB/T 2423.56-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fh：寬帶隨機振動（數(shù)字控制）和導(dǎo)則

GB/T 2423.55-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Eh錘擊試驗

GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗B高溫

GB/T 2423.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部

GB/T 2423.37-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗L：沙塵試驗方法