Surtronic S116泰勒霍普森粗糙度儀介紹

泰勒霍普森粗糙度儀技術(shù)指標：
測量范圍：200 um 100 um 10 um
分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm
底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm
重復精度 (Ra) ：1%測試值+底噪
傳感器原：電感
測量力：150-300mg
測針針尖半徑：標配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)
測試方式：滑動掃描
泰勒霍普森粗糙度儀校準：
自動軟件校準    標準：ISO4287
泰勒霍普森粗糙度儀測試參數(shù)：
三個取樣長度：0.25mm、0.8mm、2.5mm
二個濾波器：2CR、Gaussian
評定長度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選
大行程：17.5mm
測試速度：
測試速度：1mm/sec(0.04 in/sec)
回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)
泰勒霍普森粗糙度儀測試參數(shù)：
泰勒霍普森粗糙度測量儀執(zhí)行標準：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO標準可以測量12個參數(shù)： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME標準可以測量11個參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS標準可以測量14個參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
其他 ：R3z (Daimler Benz)
泰勒霍普森粗糙度測量儀測試單位：um/uin