產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
X200M擁有穩(wěn)定可靠的測試平臺,保證測試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)異的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)合分辨率<2μm的針座系統(tǒng),確保扎針的穩(wěn)定性。直流應(yīng)用中,X200M高品質(zhì)的電纜和三軸信號通路,可使DUT特性分析達(dá)到fA水平;射頻應(yīng)用中,通過縮短擴(kuò)頻模塊與探針之間連接器的距離,可高效且更好地實(shí)現(xiàn)THz內(nèi)器件高品質(zhì)參數(shù)的提取。優(yōu)異的三軸低漏電載物臺選件,提高器件測試的信心。載物臺的單手快速移動及升降、一體化真空開關(guān)等優(yōu)化設(shè)計使操作流程更加簡潔與人性化,無論是初學(xué)者還是經(jīng)驗(yàn)者,使用起來都非常方便、易懂。
專門為升級和擴(kuò)展所設(shè)計的各種選項, 可輕松實(shí)現(xiàn)如負(fù)載牽引系統(tǒng)、太赫茲系統(tǒng)、 輻照系統(tǒng)、1/f噪聲等系統(tǒng)的搭載,X200M 系統(tǒng)也可根據(jù)您的未來項目需求重新配置。