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suragus用于單點測量的非接觸式薄層電阻和層厚測量設(shè)備EddyCus lab 2020

時間:2024/4/2閱讀:287
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EddyCus lab 2020系列–用于單點測量的非接觸式薄層電阻和層厚測量設(shè)備

艾迪庫斯實驗室2020 系列允許以非接觸模式手動單點測量導電薄膜和薄金屬層的厚度。緊湊型臺式設(shè)備非常適合快速準確地測量最大尺寸為200 x 200毫米(8 x 8英寸)的樣品。除了測量薄導電層之外,還可以分析摻雜晶片和導電聚合物。

突出

  • 非接觸式實時測量
  • 導電薄膜的精確測量
  • 隱藏和封裝導電層的表征
  • 測量數(shù)據(jù)保存和導出功能



特征

  • 薄層電阻
  • 金屬層厚度測量
  • 單點測量
  • 質(zhì)量控制、輸入和輸出控制
  • 樣本尺寸:10 x 10毫米至200 x 200毫米(0.5 x 0.5英寸至8 x 8英寸)
  • 測量范圍:0.1歐姆/平方至10萬歐姆/平方

應(yīng)用程序

  • 涂層建筑玻璃,如勞
  • 顯示器、觸摸屏和平板顯示器
  • 有機發(fā)光二極管和LED應(yīng)用
  • 智能玻璃
  • 石墨烯層
  • 光伏晶片和電池
  • 半導體晶片
  • 金屬化層和晶片金屬化
  • 除冰和加熱應(yīng)用
  • 電池電極
  • 導電涂布紙和導電紡織品



突出

  • 非接觸式實時測量
  • 導電薄膜的精確測量
  • 突出

  • 非接觸式實時測量
  • 導電薄膜的精確測量
  • 隱藏和封裝導電層的表征
  • 測量數(shù)據(jù)保存和導出功能
  • 隱藏和封裝導電層的表征
  • 測量數(shù)據(jù)保存和導出功能


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