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橫河 可見光和近紅外高性能光譜分析儀 AQ6373E

2024-10-29  閱讀(404)

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橫河 可見光和近紅外高性能光譜分析儀 AQ6373E


開發(fā)背景
光譜分析儀“AQ6373E"和“AQ6374E"基于我們在該領(lǐng)域40多年積累的技術(shù)和專業(yè)知識,專為可見光范圍內(nèi)的醫(yī)療、生物和材料加工應(yīng)用而設(shè)計它的開發(fā)是為了滿足在紅外波長范圍內(nèi)測量新型光學(xué)設(shè)備和組件不斷增長的需求。

在繼承現(xiàn)有型號“AQ6373B"和“AQ6374"的特點的同時,我們還提高了可操作性,這些型號具有高波長分辨率和寬近場動態(tài)范圍,被高度評價為激光光譜測量儀器。
其背景是,激光和LED等發(fā)光器件在醫(yī)療和生物領(lǐng)域的使用不斷擴大,在開發(fā)和制造過程中需要精確的光譜測量。

此外,在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,需要使用高性能光譜分析儀進(jìn)行測量,以評估制造過程中使用的激光器的特性和質(zhì)量。

另一方面,現(xiàn)在平板電腦和智能手機已經(jīng)普及,任何想要通過觸摸操作對光譜分析儀進(jìn)行各種操作或者不熟悉光譜分析儀的各種設(shè)置和功能的人都可以輕松地進(jìn)行光譜分析儀的操作。需要能夠?qū)崿F(xiàn)這一點的功能。

橫河計量的“AQ6373E"和“AQ6374E"滿足了這些需求。

產(chǎn)品特點
光譜分析儀“AQ6373E"與當(dāng)前型號“AQ6373B"一樣,覆蓋了從350 nm(納米,納米是十億分之一)到1,200 nm的測量波長范圍,

除了標(biāo)準(zhǔn)型號外,我們還提供三種型號:非常適合激光評估的高分辨率模型,以及針對生產(chǎn)線優(yōu)化的有限模型。 
光譜分析儀“AQ6374E"不僅可以用于評估激光器等發(fā)光器件,還可以用于評估光纖的特性。

它繼承了當(dāng)前型號“AQ6374"的特點,將高光學(xué)性能與業(yè)界 的寬測量波長范圍(350 nm至1750 nm)相結(jié)合。
這兩款新型號現(xiàn)在都具有 APP(應(yīng)用程序)模式,旨在加快您的研發(fā)和生產(chǎn)測試任務(wù)。 

APP模式提供了特定于被測設(shè)備的測試應(yīng)用程序,可導(dǎo)航從設(shè)置測量條件到輸出分析結(jié)果的一系列操作。即使不熟悉光譜分析儀的客戶也能輕松使用。
此外,大尺寸液晶觸摸屏的使用,使操作更加簡單、直觀。

*近動態(tài)范圍:分離和測量接近被測光峰值光的光譜(邊模)的能力。
 

[主要市場]
醫(yī)療器械制造商、生物制造商、工業(yè)加工機械制造商、光纖制造商的開發(fā)部門和產(chǎn)品評價部門
大學(xué)和研究機構(gòu)

[應(yīng)用范圍]
各種激光、LED光源元件及使用其的光學(xué)元件開發(fā)和制造中的特性測試和
產(chǎn)品評估光纖開發(fā)和制造中的特性測試和產(chǎn)品評估


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