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簡介

AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（STM）之后發(fā)明的一種具有原子級高分辨的新型儀器，可以對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱?，F(xiàn)已廣泛應用于各種納米相關學科的研究實驗領域中，成為納米科學研究的基本工具。

AFM探針與樣品（導體、半導體、非導體）之間的原子力大小，與兩者間距有關。當探針與樣品進入原子力狀態(tài)時，作用于針尖上的原子力推動微懸臂使之產(chǎn)生偏轉。此時對樣品進行XY掃描，微懸臂的偏轉量隨樣品表面的起伏而變化，采用光杠桿方法將偏轉量放大從而獲得偏轉量的大小，即可獲得樣品表面的微觀納米形貌。

YMP-6114 # 原子力顯微鏡特點

AFM探頭采用臥式設計，具有臥式可視化光路，使科研及教學實驗過程中研究人員及學生對儀器的操作更直觀，探頭及儀器性能更加穩(wěn)定。

• 采用高精度壓電陶瓷掃描傳感器， X、Y、Z互相正交的三軸壓電陶瓷，可保證掃描圖像不因耦合而失真；掃描器具有更好的掃描線性和獨立性、更高的強度和剛度，兼具更強的掃描驅動力，能同時適用于較小與較大、較輕與較重樣品的掃描成像。

• 具有強大的圖形軟件與功能，彩色圖像掃描、處理及顯示軟件，中英文操作界面，兼容Windows XP/Win7/Win8/Win10等操作系統(tǒng)。用鼠標可任意選擇局部掃描區(qū)域，實現(xiàn)圖像的平移、定位和縮放。具有實現(xiàn)X 和 Y 方向的面掃描和線掃描的功能；可獲得樣品表面的納米級三維形貌結構和截面線顯示功能。裁剪、粘貼、 對比調(diào)節(jié)、亮度調(diào)節(jié)、顏色調(diào)整、背景色調(diào)整、圖像平滑、濾波等圖像處理功能。   

• AFM的使用非常簡單和便捷，一般無需專人操作和維護。安裝探針、安裝樣品、粗調(diào)和微調(diào)進樣、圖像掃描、圖像存儲等操作，均可簡單完成。特別適用于科學研究、教學實驗及產(chǎn)品檢測。

• 無須嚴苛的使用環(huán)境，能夠在在普通實驗室、普通實驗臺、普通教室、普通桌子等條件下正常運行，能夠在有光照、有輕微振動及有人員走動的一般環(huán)境條件下正常工作。我們的AFM是看得見、摸得著、易維護、易操作、普適化的，而不是黑箱式的、安裝調(diào)試極其繁瑣的、需要專人操作的、使用環(huán)境近乎嚴苛的。

YMP-6114 # 原子力顯微鏡應用

同時適用于科學研究、本科生和研究生的教學實驗及納米技術產(chǎn)品的檢測，廣泛適用于各種金屬/非金屬、導體/非導體、磁性/非磁性材料樣品的掃描檢測。

典型測試數(shù)據(jù)

納米壓印結構樣品的AFM圖像

部件列表