目錄:憶璽智能科技(杭州)有限公司>>光電實(shí)驗(yàn)實(shí)訓(xùn)>>光電檢測(cè)實(shí)驗(yàn)>> ROE-RI04 # 光學(xué)薄膜測(cè)量綜合實(shí)驗(yàn)
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更新時(shí)間:2025-02-26 14:53:27瀏覽次數(shù):4評(píng)價(jià)
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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ROE-RI04 # 光學(xué)薄膜測(cè)量綜合實(shí)驗(yàn)簡(jiǎn)介
伴隨著21世紀(jì)初光電子技術(shù)的迅猛發(fā)展,光學(xué)薄膜器件的應(yīng)用向著性能要求和技術(shù)難度更高、應(yīng)用范圍和知識(shí)領(lǐng)域更廣、器件種類和需求數(shù)量更多的方向迅速發(fā)展。為了使學(xué)生適應(yīng)發(fā)展需求、拓展知識(shí)范圍、增加知識(shí)深度、開闊視野和提升能力,開發(fā)了光學(xué)薄膜測(cè)量綜合實(shí)驗(yàn),針對(duì)市場(chǎng)上常用的鍍膜片進(jìn)行研究,從鍍膜的原理到實(shí)際樣品的測(cè)試,逐步深入,是學(xué)生了解光學(xué)鍍膜原理和應(yīng)用的良好實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。
ROE-RI04 # 光學(xué)薄膜測(cè)量綜合實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
光譜儀的原理與使用實(shí)驗(yàn);
白光干涉測(cè)薄膜厚度實(shí)驗(yàn);
鍍膜介質(zhì)折射率測(cè)量實(shí)驗(yàn);
單層膜特性模擬實(shí)驗(yàn);
減反射膜模擬與測(cè)試實(shí)驗(yàn);
增反射膜模擬與測(cè)試實(shí)驗(yàn);
截止濾光片模擬與測(cè)試實(shí)驗(yàn);
帶通濾光片模擬與測(cè)試實(shí)驗(yàn);
分光鏡模擬與測(cè)試實(shí)驗(yàn);
帶通濾光片的角特性實(shí)驗(yàn)。
實(shí)驗(yàn)知識(shí)點(diǎn)
減反射膜、增反射膜、金屬膜、分光鏡、二向色鏡、帶通濾光片、白光干涉、薄膜測(cè)厚、能量比、反射率、透過率.
實(shí)驗(yàn)效果圖
實(shí)驗(yàn)原理圖
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