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2024年
11月 -
原裝現(xiàn)貨日本SEN紫外線燈管SUV90US-43
#2024年新品發(fā)布會#日期：2024年9月29日時間：8：30-18：30近期我司新推出升級了日本SEN紫外線燈管SUV90US-43用于光表面清洗：使用短波長185nm，254nm對物體表面進行UV清洗，改質(zhì)。由石英玻璃或特種石英玻璃制成。有SEN、EYE、GS、HERAEUS等多個品牌，也可根據(jù)客戶的特殊需要訂做。干式清洗領(lǐng)域：LCD用玻璃的精密清洗半導(dǎo)體/電子部件的精密度清洗液晶玻璃清洗表面改質(zhì)領(lǐng)域：LCD用玻璃的表面涂層前處理樹脂材料表面的接著前處理其他領(lǐng)域：金屬表面的酸性膜處理紫外線【查看全文】
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2024年
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#2024年新品發(fā)布會#日期：2024年9月29日時間：8：30-18：30近期我司新推出升級了SANKO三高電磁模擬涂層測厚儀SL-5P它用于測量細管、彎頭中的薄膜等，例如無法接近的內(nèi)表面、底部和底部表面。它具有探頭結(jié)構(gòu)，具有一個小型的兩極測量桿和一個細長的導(dǎo)軌。測量范圍0~1毫米測量精度±2μm或讀數(shù)的±5%最小測量管徑φ20權(quán)力AA電池（1.5V）×8，交流適配器工作溫度0~40°C（非冷凝）飛機尺寸190（寬）×90（高）×120（深）毫米重量1.8千克附屬品標(biāo)準(zhǔn)木板、AC適配器、肩包式【查看全文】
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2024年
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#2024年新品發(fā)布會#日期：2024年9月29日時間：8：30-18：30近期我司新推出升級了SANKO三高砂漿水分儀PM-101直流電阻。上限報警，平均值顯示特征砂漿、混凝土和塑料的水分測量、控制和檢查。測量不受密度、埋地鋼筋等的影響。測量范圍1~15%1~100（MC模式）模式切換砂漿和混凝土，石膏，MC模式平均值顯示顯示最多20個數(shù)據(jù)的平均值（關(guān)閉電源時刪除）顯示分辨率0.1%1（MC模式）顯示方法LCD顯示屏，帶保持功能，電池電量指示鬧鐘設(shè)置上限設(shè)定1.5~14.5%0.5%步長可選設(shè)【查看全文】
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2024年
11月 -
SHASHIN寫真化學(xué) 進口供應(yīng)紅外吸收涂層測厚儀
#2024年新品發(fā)布會#日期：2024年9月29日時間：8：30-18：30近期我司新推出升級了SHASHIN寫真化學(xué)進口供應(yīng)紅外吸收涂層測厚儀使用光吸收法可以測量半透明片材、低反射膜、有機硅等的厚度，這是使用光學(xué)干涉的反射光譜膜測厚儀難以做到的。這是一種可以通過顯微圖像光譜以高分辨率可視化薄膜厚度分布的薄膜厚度計。可以以10nm或更低的高分辨率測量顯微鏡視野內(nèi)某個區(qū)域內(nèi)透明多層薄膜的厚度分布。由于它是一種使用光學(xué)干涉法的反射光譜方法，因此很容易獲得0.1nm或更小的膜厚精度。【查看全文】
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02
2024年
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SHASHIN寫真化學(xué)原裝供應(yīng)紅外透射膜厚儀
#2024年新品發(fā)布會#日期：2024年9月29日時間：8：30-18：30近期我司新推出升級了SHASHIN寫真化學(xué)原裝供應(yīng)紅外透射膜厚儀紅外透射膜厚度監(jiān)測器可測量電池隔膜等半透明片材、黑色光刻膠等低反射膜和硅的厚度。它是一種紅外吸收涂層測厚儀，可應(yīng)用于從實驗室級別到生產(chǎn)過程中的在線檢查的所有情況。它是一種紅外薄膜測厚儀，采用由緊湊型鏡面探頭組成的透射光學(xué)系統(tǒng)，可通過同時測量100多個波長的光譜儀，準(zhǔn)確測量薄膜厚度、密度、成分等多個參數(shù)。1測量半透明片材、低反射膜、硅等的厚度，這在光學(xué)干涉測量【查看全文】
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2024年
11月 -
日本供應(yīng)SHASHIN寫真化學(xué)成像圖層膜厚儀
#2024年新品發(fā)布會#日期：2024年9月29日時間：8：30-18：30近期我司新推出升級了SHASHIN寫真化學(xué)成像圖層膜厚儀這是一種可以通過顯微圖像光譜可視化透明多層膜的膜厚分布的膜厚計。由于薄膜厚度是通過光學(xué)干涉法計算的，因此薄膜厚度分布可以以0.1nm或更低的分辨率以3D形式顯示。在顯微鏡視場中測量任意區(qū)域的薄膜厚度和薄膜質(zhì)量分布，并以3D形式顯示分布分辨率與可見光波長光學(xué)涂層測厚儀相當(dāng)波長范圍從450nm到750nm，可以1nm的增量使用與反射膜厚度監(jiān)視器相同的計算引擎進行并行計算【查看全文】
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02
2024年
11月 -
SHASHIN寫真化學(xué)映射涂層測厚儀進口供應(yīng)
#2024年新品發(fā)布會#日期：2024年9月29日時間：8：30-18：30近期我司新推出升級了SHASHIN寫真化學(xué)映射涂層測厚儀映射涂層測厚儀能夠在最大300mm的晶圓的所有表面上自動映射膜厚測量。自動對位功能和使用具有高平整度的晶圓卡盤可實現(xiàn)可靠的薄膜厚度測量。此外，它可以安裝在半導(dǎo)體制造設(shè)備的負載端口，以在保持清潔度的同時管理制造設(shè)備上的薄膜厚度。1能夠?qū)ψ畲?00mm的晶圓的整個表面進行自動涂層厚度映射測量2自動對位功能3通過使用具有高平整度的晶圓卡盤，提高晶圓表面的測量可靠性通過自動【查看全文】
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2024年
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北崎供應(yīng)寫真化學(xué)SHASHIN反射涂層厚度監(jiān)測儀
#2024年新品發(fā)布會#日期：2024年9月29日時間：8：30-18：30近期我司新推出升級了寫真化學(xué)SHASHIN反射涂層厚度監(jiān)測儀反射涂層厚度監(jiān)測儀是一種光學(xué)干涉反射光譜涂層測厚儀，它使用微型反射探頭，可應(yīng)用于從實驗室級別到生產(chǎn)過程中的在線檢查的所有情況。它具有出色的可維護性，可用于集成到工藝設(shè)備和生產(chǎn)線管理應(yīng)用中。最多可同時測量9種類型的透明膜。它具有出色的可維護性，可用作工藝設(shè)備或生產(chǎn)線管理應(yīng)用的集成。例如，在沉積、拋光和蝕刻過程中，它可以用作在線監(jiān)視器或終點監(jiān)視器（終點檢測傳感器），【查看全文】
