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產(chǎn)地類別	進(jìn)口	價(jià)格區(qū)間	20萬(wàn)-50萬(wàn)
應(yīng)用領(lǐng)域	航天,汽車,電氣,綜合

概述

VEO+保留了現(xiàn)有VEO的優(yōu)點(diǎn)，新的VEO+設(shè)計(jì)的目的在于滿足用戶當(dāng)下和日后的檢測(cè)需求。使VEO+成為一個(gè)智能化并且對(duì)您未來(lái)工作有價(jià)值的設(shè)備。

考慮到VEO+的發(fā)展，我們?cè)O(shè)計(jì)的主要目光便聚焦于使用者和設(shè)備本身的性能?；诹己酶镄碌臄?shù)字技術(shù)，VEO+有4組相控陣配置（16:64PR,32:64PR,16:128PR或32:128PR），并可提供軟件，按用戶要求升級(jí)。

隨著開發(fā)Xpair雲(yún)端遠(yuǎn)程訪問，相控陣曲面修正及導(dǎo)出CSV格式軟件程式選項(xiàng)。全矩陣采集 - 全聚焦成像技術(shù) (FMC-TFM) 是另一個(gè)軟件選項(xiàng)。你可以導(dǎo)出FMC記錄，以及使用多達(dá)64個(gè)晶片的相控陣探頭去進(jìn)行TFM成像。

典型應(yīng)用包括：焊接檢測(cè)，裂紋檢測(cè)，腐蝕測(cè)繪，航空航天和復(fù)合材料測(cè)試。

主要特點(diǎn)：

- 16:64 相控陣 (16 脈沖發(fā)生/接收器, 上升至64元素)

- 可升級(jí)至16:128 (16 脈沖發(fā)生/接收器, 上升至128元素)

- 快速編碼器掃描,能實(shí)示顯示S, L, A, B, C, TOFD 掃描

- 能同步超聲波及相控陣檢測(cè)

- 內(nèi)建6GB 存儲(chǔ)盤, 能通過(guò)USB 鑰匙增加容量

- 熱插入式充電池

3D掃描圖

VEO掃描支持多探頭和多重掃描，可從許多來(lái)源快速有效的設(shè)置檢測(cè)計(jì)劃?？蓮囊欢ǚ秶膸缀螌W(xué)焊縫中選擇，并可顯示出你已選擇用于檢測(cè)工件的探頭。多重跳轉(zhuǎn)路徑顯示在3D掃描圖上，使用者可確保*覆蓋焊縫檢測(cè)。有簡(jiǎn)單的參考點(diǎn)指示，可以快速確定探頭在工件上所處的位置。

TOFD

VEO能包括用于TOFD檢測(cè)，采用的模擬濾波器及加上低噪聲的放大器，高速數(shù)據(jù)采集和高清晰度顯示，高品質(zhì)的TOFD掃描可以與相控陣同時(shí)查看。在焊縫檢測(cè)時(shí)，相控陣和TOFD檢測(cè)可以一起評(píng)價(jià)以提高可信度。

多重掃描

VEO可以快速設(shè)置為顯示一個(gè)大范圍的多重掃描視圖。這允許使用者選擇一個(gè)重要的檢測(cè)視圖，并獲得顯示效果。扇形掃描、頂部、邊部和端視圖都可以結(jié)合多重A掃描視圖和TOFD

。指針和標(biāo)尺可用于在視圖中識(shí)別軌跡，實(shí)時(shí)測(cè)量工具可顯示尺寸和注釋。

A掃描

veo支持傳統(tǒng)的用單晶探頭的超聲波檢測(cè)。高分辨率的LCD和快速的圖形重現(xiàn)，確保高的精度水平和快速的交互式波形顯示。由于高分辨率的LCD顯示，測(cè)量清晰易讀，寬屏幕模式提供了巨大的掃描視窗區(qū)域。

UT Studio

UT Studio是基于計(jì)算機(jī)的相控陣分析和生成報(bào)告的分析軟件。記錄的veo數(shù)據(jù)文件可以很容易的通過(guò)U盤傳輸，并用于生成新的視窗和影像。使用者可以簡(jiǎn)單的將veo數(shù)據(jù)文件拖拽到顯示模板中以創(chuàng)建多個(gè)視窗。

軟件內(nèi)包括了強(qiáng)大的測(cè)量指針和抽取器用于識(shí)別軌跡、尺寸和標(biāo)注缺陷。容易生成報(bào)告，并以PDF格式輸出。

英國(guó)聲納超聲相控陣探傷儀 VEO

veo 標(biāo)準(zhǔn)套
veo 16:64
校準(zhǔn)證書
UT Studio 單一用戶許可
• 常規(guī)視圖（A/B/C/D）
• 相控陣視圖（S/L掃描）
• 查看報(bào)告
USB記憶棒（8GB）
鋰電池組 x 2
電源線和電源是配置
耦合劑
快速操作指南和使用手冊(cè)（CD盤）
屏幕保護(hù)板（防炫目）
肩背帶
4點(diǎn)式頸式掛繩
攜帶箱（可帶入飛機(jī)機(jī)艙的尺寸）

veo 套裝
•veo & Magman掃描器
•veo & 腐蝕檢測(cè)滾輪探頭
•veo & 手動(dòng)TOFD
•veo & 手動(dòng)焊縫檢測(cè)