美國(guó)GE超聲波探傷儀維修
承接 美國(guó)GE,德國(guó)KK 各種型號(hào)超聲波探傷儀維修
包括:
USM33 超聲波探傷儀
USM33部分故障類(lèi)型:屏幕顯示黑屏和花屏,按鍵面板失靈,無(wú)法充電,無(wú)法開(kāi)機(jī),充電器損壞,沒(méi)有超聲波回波和波形
USM35 DAC,USM35 DGS
USM35 部分故障類(lèi)型:屏幕顯示黑屏和花屏,按鍵面板失靈,外殼損壞,無(wú)法充電,無(wú)法開(kāi)機(jī),充電器損壞,沒(méi)有超聲波回波和波形
USMGO,USMGO+,USM86,USM88
部分故障類(lèi)型:五位搖桿失靈,屏幕顯示黑屏和花屏,外殼損壞,無(wú)法充電,使用電池?zé)o法開(kāi)機(jī),連接電源無(wú)法開(kāi)機(jī),充電器損壞,沒(méi)有超聲波回波和波形
USN60,USN60ND,USN60 L
部分故障類(lèi)型:屏幕顯示黑屏和花屏,按鍵面板失靈,外殼損壞,自動(dòng)關(guān)機(jī),無(wú)法充電,無(wú)法開(kāi)機(jī),充電器損壞,沒(méi)有超聲波回波和波形
美國(guó)GE超聲波探傷儀維修
承接美國(guó)GE,德國(guó)KK各種型號(hào)超聲波探傷儀維修,包括:
USM33 超聲波探傷儀
USM33部分故障類(lèi)型:屏幕顯示黑屏和花屏,按鍵面板失靈,無(wú)法充電,無(wú)法開(kāi)機(jī),充電器損壞,沒(méi)有超聲波回波和波形
USM35 DAC,USM35 DGS
USM35 部分故障類(lèi)型:屏幕顯示黑屏和花屏,按鍵面板失靈,外殼損壞,無(wú)法充電,無(wú)法開(kāi)機(jī),充電器損壞,沒(méi)有超聲波回波和波形
USMGO,USMGO+,USM86,USM88
部分故障類(lèi)型:五位搖桿失靈,屏幕顯示黑屏和花屏,外殼損壞,無(wú)法充電,使用電池?zé)o法開(kāi)機(jī),連接電源無(wú)法開(kāi)機(jī),充電器損壞,沒(méi)有超聲波回波和波形
USN60,USN60ND,USN60 L
部分故障類(lèi)型:屏幕顯示黑屏和花屏,按鍵面板失靈,外殼損壞,自動(dòng)關(guān)機(jī),無(wú)法充電,無(wú)法開(kāi)機(jī),充電器損壞,沒(méi)有超聲波回波和波形
美國(guó)GE KK 超聲波硬度計(jì),MIC10,MIC10 DL,MIC205,MIC201,MIC2013 等全型號(hào)探頭。
故障代碼:
E0.0,DPROM內(nèi)部錯(cuò)誤
E0.2,在系統(tǒng)自動(dòng)檢查中發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤,自檢不通過(guò)
E1.0,探頭錯(cuò)誤
E1.1,在測(cè)量中探頭操作錯(cuò)誤(接觸時(shí)間操作3秒)
E1.2,無(wú)法評(píng)估測(cè)量
E1.3,在結(jié)束規(guī)定的測(cè)量時(shí)間前探頭被連接
E2.0,讀取記憶卡時(shí)發(fā)生錯(cuò)誤
E2.1,記憶卡被DynaMIC寫(xiě)入
E3.0,界面沒(méi)有準(zhǔn)好
除以上故障,還可修復(fù)硬度計(jì)探頭測(cè)量讀數(shù)跳動(dòng)大,硬度計(jì)探頭無(wú)法被MIC10儀器識(shí)別,硬度計(jì)探頭測(cè)量后沒(méi)有硬度值顯示,硬度計(jì)MIC10顯示屏顯示不完整字符有缺損,硬度計(jì)MIC10按鍵面板按鍵失靈和損壞,MIC10硬度計(jì)外殼受損等各種故障。