奧林巴斯olympus超聲波探頭
PANAMETRICSO超聲探頭
我們提供的各種頻率、晶片直徑及連接器類型的Panametrics超聲探頭有5000種以上。擁有40多年探頭研制經(jīng)驗的OlympusNDT已經(jīng)開發(fā)了用于缺陷探測、焊縫檢測、厚度測量及材料分析等特殊應(yīng)用的各種各樣的定制探頭。
探頭選擇
在任何超聲系統(tǒng)中，探頭都是一個非常關(guān)鍵的部件。在各種檢測應(yīng)用中，操作人員需要針對應(yīng)用的具體要求，非常仔細(xì)地選擇適當(dāng)?shù)奶筋^。
作為一個整體的系統(tǒng)的性能至關(guān)重要。而儀器的特性和設(shè)置，以及材料的特性和耦合條件在發(fā)揮系統(tǒng)的性能上也起到非常重要的作用。
我們已經(jīng)開發(fā)研制了三種不同系列的探頭，用于滿足不同應(yīng)用的需要。每種系列探頭都有其的性能。
探頭的配置也會對系統(tǒng)性能產(chǎn)生影響。在使用聚焦探頭和適用于測試材料的帶有防磨面的探頭時，以及在選擇探頭的適當(dāng)頻率和晶片直徑時，一定要考慮周全。
以下三段總結(jié)對每種探頭系列的性能特點進行了概括性描述。這些指導(dǎo)性說明非常有用，但是每項應(yīng)用都具有，且探頭的性能取決于電子設(shè)備、線纜、探頭配置、頻率及晶片直徑這些因素。
ACCUSCAN-S
Accuscan-S系列探頭可在軸向分辨率不是很重要的情況下提供的靈敏度。一般來說,這個系列的波形持續(xù)較長,頻率帶寬相對來說較窄。
CENTRASCAN
壓電復(fù)合材料晶片Centrascan系列探頭可在難于穿透的材料中提供的靈敏度和信噪比。對于塑料和其它低阻抗材料,它們具有的聲匹配性能。
VIDEOSCAN
Videoscan探頭是一種可以提供強阻尼寬帶性能的非調(diào)諧的探頭。在需要好的軸分辨率或距離分辨率的應(yīng)用中,或在衰減性強或易散射的材料上進行對信噪比要求較高的測試中,這種探頭是您選擇。
奧林巴斯olympus超聲波探頭
接觸式探頭：
接觸式探頭是一個通?？缮煽v波且與被測樣件直接接觸的單晶探頭。所有接觸式探頭都裝有WC-5防磨面，不僅具有超級防磨效果，可以延長探頭壽命，還可以提供適合于大多數(shù)金屬的聲阻抗。請參閱第8頁了解有關(guān)縱波接觸式探頭的更詳細(xì)情況，還可參閱第17頁了解有關(guān)垂直入射橫波探頭的信息。
雙晶探頭：
雙晶探頭包含兩個縱波晶片(一個用作發(fā)送器，另一個用作接收器),兩個晶片裝于同一個外殼中，但中間有一層隔音屏障。每個晶片都稍微向另一個晶片傾斜，目的是使從工件底面反彈的信號以V形聲程傳播。雙晶探頭在檢測嚴(yán)重腐蝕的工件時一般都能提供更穩(wěn)定的讀數(shù)，而且還可用于高溫環(huán)境。參閱第10頁了解有關(guān)用于探傷的雙晶探頭的更詳細(xì)情況，還可參閱第30頁了解有關(guān)與Olympus NDT腐蝕測厚儀一起使用的雙晶探頭的更詳細(xì)情況。
角度聲束探頭：
角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以所選的角度將縱波或橫波發(fā)射到工件中。角度聲束探頭可以對工件中垂直入射接觸式探頭的超聲聲程無法到達的區(qū)域進行檢測。角度聲束探頭一般用于焊縫檢測，因為如果使用標(biāo)準(zhǔn)接觸式探頭，焊冠會擋住聲波，使聲波無法到達希望檢測的焊縫區(qū)域，而且一般的缺陷對準(zhǔn)操作會使角度聲束產(chǎn)生更強的反射信號。
延遲塊探頭：
延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭，其特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計是在探頭晶片前插有塑料或環(huán)氧材料制成的一個薄片。延遲塊改進了工件近表面缺陷的分辨率，可以測量更薄的材料厚度，并能提供更精確的厚度測量結(jié)果。延遲塊可根據(jù)工件的表面幾何形狀緊貼在工件上，而且還可用于高溫應(yīng)用中。
保護面探頭：
保護面探頭為一種帶有螺紋外殼護套的單晶縱波探頭，可以安裝延遲塊、防磨帽或保護膜。這個特點極大地增強了探頭的靈活通用性，可使這種探頭用于范圍極為廣泛的應(yīng)用中。保護面探頭還可用作直接接觸式探頭，檢測橡膠或塑料等低阻抗材料，以改進聲阻抗的匹配效果。
水浸探頭：
水浸探頭為單晶縱波探頭，其防磨面具有與水匹配的阻抗。水浸探頭裝在密封外殼中，在與防水線纜一起使用時，可以浸泡在水面以下。由于水浸探頭將水用作耦合劑和延遲塊，因此針對必須對工件施行持續(xù)耦合的掃查應(yīng)用來說，這種探頭是一種理想的探頭。水浸探頭還有一個附加選項，即可以通過增加特定區(qū)域的聲強同時減少聲束焦點大小的方式將聲束聚焦。
高頻探頭：
高頻探頭包括延遲塊探頭和聚焦水浸探頭。這些探頭的頻率范圍在20 MHz至225MHz之間。高頻延遲塊探頭可以對厚度薄如0.010毫米(0.0004英寸)的材料進行厚度測量(取決于材料、探頭、表面條件、溫度和設(shè)置)。高頻聚焦水浸探頭是對硅制微型芯片等具有低衰減性的薄材料進行高分辨率成像和缺陷探測應(yīng)用的理想探頭。
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