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雙聚焦輝光放電質(zhì)譜儀中了輝光放電和高分辨質(zhì)譜的優(yōu)勢

閱讀：252 發(fā)布時間：2022-9-6

　　雙聚焦輝光放電質(zhì)譜儀是一個專為高精度元素分析所設(shè)計的儀器。此雙聚焦輝光放電質(zhì)譜儀提供了固體金屬與絕緣體的直接分析檢測。它具有非常寬的元素覆蓋范圍，可得到超過70種元素的有效數(shù)據(jù)，靈敏度高，輕元素重元素均可。

　　目前，本產(chǎn)品結(jié)合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質(zhì)量分析器，可以定性定量分析固體樣品中包括C、N、O在內(nèi)的幾乎所有元素，是直接、快速分析高純樣品雜志含量和鍍層材料元素組成的較佳工具。

　　雙聚焦輝光放電質(zhì)譜儀集中了輝光放電和高分辨質(zhì)譜的優(yōu)勢，在以下方面有杰出表現(xiàn)：

　　1、樣品測試通量高：ELEMENT GD離子源和樣品夾的設(shè)計使可縮短換樣和分析時間，顯著提高生產(chǎn)率；

　　2、檢測器線性范圍寬：檢測器線性范圍達12個數(shù)量級，可一次掃描同時檢測基體和痕量元素組成；

　　3、具有固定寬度的低、中、高分辨率狹縫，采用高分辨率可直接分析有質(zhì)譜干擾的同位素。

　　該儀器的主要特性：

　　1、低至亞ppb級的定量數(shù)據(jù)；

　　2、具有深度剖面同位素比值分析能力；

　　3、少的樣品制備過程；

　　4、高分辨率，特別是對于有干擾離子存在的測定而言十分重要；

　　5、廣泛的元素涵蓋范圍，軟件中包括70個元素相關(guān)的干擾離子數(shù)據(jù)；

　　6、由于原子化和離子化過程發(fā)生在不同區(qū)域，帶來可忽略的基體效應(yīng)。