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技術(shù)文章

通過相位分析光散射法測量海水中石灰石的 Zeta 電位

閱讀:96          發(fā)布時間:2025-2-17
通過相位分析光散射法測量海水中石灰石的 Zeta 電位


對于Zeta電位測量,有經(jīng)驗的研究者都清楚,在顆粒帶電荷數(shù)高或整個樣品體系離子強度低的情況下,Zeta 電位相對容易測量。但當(dāng)樣品接近等電點或電泳遷移率較低時,Zeta電位的測量就會面臨技術(shù)挑戰(zhàn)。低電泳遷移率現(xiàn)象通常出現(xiàn)在樣品懸浮于有機溶劑、粘稠介質(zhì)或高離子強度溶液的條件下。本技術(shù)說明介紹了在鹽濃度 >1 M的高離子強度體系中 Zeta 電位的測量技術(shù),具體的樣品制備和測量條件如下:


樣品制備


首先,稱取三份 0.04 克石灰石并分別分散在 10 mL 的 100%、50% 和 25% 海水中配制懸浮液。其中 50% 與 25% 海水溶液通過用電阻率為 18.2 MΩ·cm 的超純水對 100% 海水稀釋獲得。所有懸浮液在測量前靜置至少 48 小時。

測量前需對電極進行鈍化:將電極置于 1 M NaCl 溶液中,在 NanoBrook ZetaPALS 儀器上設(shè)置 350 次循環(huán)(頻率與電壓參數(shù)設(shè)為自動)進行電極預(yù)處理。該鈍化處理將會在電極表面形成均勻的黑色涂層,這對高離子強度懸浮液的 Zeta 電位測量至關(guān)重要!


通過相位分析光散射法測量海水中石灰石的 Zeta 電位



圖 1:使用 ZetaPALS 以 100 次循環(huán)對懸浮在 100% 海水(離子強度 1.15M)中的石灰石進行測量


靜置 48 小時后,將每個樣品手動搖勻以確保其均勻性。將一滴石灰石懸浮液和 2mL 海水加入到 BI-SCP 塑料樣品池中,蓋上樣品池頂蓋,通過搖晃樣品池進一步確保樣品混合均勻。隨后手持樣品池(呈 45°角傾斜),小心地將電極組件插入懸浮液中,以避免電極之間滯留氣泡。此時需目視檢查樣品池表面或電極之間是否存在氣泡,以確保測量準確性。若發(fā)現(xiàn)氣泡,通??赏ㄟ^輕敲樣品池壁排出。然后將樣品池置于儀器中,靜置 5 分鐘使其平衡至測量溫度 25°C。


通過相位分析光散射法測量海水中石灰石的 Zeta 電位
通過相位分析光散射法測量海水中石灰石的 Zeta 電位

測量條件

每次測量均將儀器參數(shù)設(shè)置為運行 1 次,100個循環(huán)。儀器的頻率和電壓設(shè)置為自動,分別為 2.5 V和 2 Hz。使用高循環(huán)數(shù)運行是為了在測量中得到更好的相位,選擇單次運行是為了避免破壞樣品。


圖1.的相位圖顯示了在 100% 海水(離子強度為1.15M)中測量的原始數(shù)據(jù)點。只有真正的相位分析光散射儀器,如NanoBrook ZetaPALS,才能測量這種高鹽濃度的樣品。盡管測量數(shù)據(jù)看似存在噪聲,但通過對三種不同濃度海水樣品的 Zeta 電位測量結(jié)果表明,儀器對石灰石樣品電泳遷移率的相位測量是準確的。不同海水濃度下測得的 Zeta 電位如表1.所示。

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