簡介

       石灰石是重要的工業(yè)商品之一，因?yàn)樗诮ㄖ牧?、鋼鐵生產(chǎn)、制藥和食品等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。與工業(yè)礦產(chǎn)的其他步驟一樣，必須對生產(chǎn)過程進(jìn)行持續(xù)的監(jiān)控，以確保產(chǎn)品質(zhì)量的一致性。特別受歡迎的是高純度石灰石，含有高含量的氧化鈣和低濃度的雜質(zhì)，如Fe?O?。同時(shí)MgO也是石灰?guī)r重要的天然成分，需要檢測。本報(bào)告表現(xiàn)了S2 PUMA用于石灰石測量的分析性能。

       S2 PUMA: 快速簡化生產(chǎn)控制。 S2 PUMA是高性能的臺式能量色散x射線熒光(EDXRF)光譜儀，具有廣泛的應(yīng)用范圍。因?yàn)樗腦Y軸自動(dòng)進(jìn)樣器可以對大批量的過程樣品進(jìn)行無人值守的分析，因此非常適合石灰石樣品的過程控制。其HighSense™光路和可選的輕元素(LE)配置，確保高通量的同時(shí)還保證了的精確度和準(zhǔn)確度，即使是對Mg這樣的輕元素。

       儀器可選配符合人體工程學(xué)的TouchControl™觸摸式操作界面，可在孤島模式下獨(dú)立進(jìn)行常規(guī)操作，不需要任何PC外設(shè)，*適合工業(yè)環(huán)境。專門設(shè)計(jì)的儀器保護(hù)系統(tǒng)SampleCare™和強(qiáng)大的用戶控制軟件 SPECTRA.ELEMENTS，堅(jiān)固的設(shè)計(jì)保證了儀器能夠長時(shí)間運(yùn)行。

校準(zhǔn)數(shù)據(jù)

       此應(yīng)用報(bào)告中，采用S2 PUMA20位XY軸自動(dòng)進(jìn)樣器，配備Ag靶LE探測器，選取8個(gè)石灰石標(biāo)準(zhǔn)品進(jìn)行工作曲線校準(zhǔn)。稱取9 g研磨好的樣品粉末和1 g的粘合劑石蠟，在150kN的壓力下壓片30秒，制備成40 mm直徑的壓片樣品。測量時(shí)間為100秒，并在真空條件下進(jìn)行，以達(dá)到的輕元素檢測，無需氦氣沖洗以降低運(yùn)行成本。峰值和背景位置分別由固定位置、積分和峰值高度或低包絡(luò)線定義。用于校準(zhǔn)的參考樣品元素的量程和標(biāo)準(zhǔn)偏差見表 1。

表 1:校準(zhǔn)數(shù)據(jù)

       Mg的標(biāo)準(zhǔn)曲線(見圖1) 顯示了S2 PUMA出色的分析能力，尤其對于輕元素有著優(yōu)異的線性相關(guān) (R²=0.99953) ，3σ的標(biāo)準(zhǔn)差為0.1620%，濃度范圍為17.9%以內(nèi)。

圖1: Mg的校準(zhǔn)曲線

分析精密度

       為了驗(yàn)證S2 PUMA*的分析穩(wěn)定性，每17 min重復(fù)測試樣品10次。表2列出了測試條件。每次分析后，樣品從樣品倉中自動(dòng)取出。本次在S2 PUMA上的重復(fù)實(shí)驗(yàn)分析數(shù)據(jù)，結(jié)果和相對標(biāo)準(zhǔn)偏差見表 3。

表 2: 測試條件

表 3: 石灰石主要成分的測試精度 (測試時(shí)間為 100 s)

測試準(zhǔn)確性

       S2 PUMA 的準(zhǔn)確性可以從以下范例中表現(xiàn) 出來。根據(jù)上述校準(zhǔn)方法，分析結(jié)果及參考值如表 4 所示。表中的數(shù)據(jù)顯示出石灰?guī)r的測試結(jié)果與參考值具有高度的一致性。特別指出的是，對于像 Ca，F(xiàn)e 這樣的重要元素，結(jié)果匹配的非常好，甚至于對于 Mg 這樣的輕元素，與參考值也非常接近。

表4: 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的準(zhǔn)確度測試 (測試時(shí)間為 100 s)

總結(jié)

       基于 HighSense 光路和 LE 配置，S2 PUMA 提供了優(yōu)異的輕元素分析性能，在短的測量時(shí)間內(nèi)獲得結(jié)果。集成了真空模式，與氦氣沖洗模式相比，運(yùn)行成本更低。此外，可選配的觸屏控制（TouchControl） 的簡單操作，使得 S2 PUMA 成為工業(yè)環(huán)境中完美的質(zhì)量控制搭檔。

X射線熒光光譜儀S2 PUMA

       布魯克是X射線熒光光譜分析儀器及軟件的主要供應(yīng)商之一。分析儀器主要應(yīng)用于科學(xué)的研究和發(fā)展、工業(yè)過程控制以及半導(dǎo)體材料的物性測量領(lǐng)域?？蔀榭蛻籼峁┝可矶ㄖ频臒o損分析解決方案，用以分析表征廣泛的產(chǎn)品，例如石化產(chǎn)品、塑料和聚合物、環(huán)境、醫(yī)藥、采礦、建筑材料、研究與教育、金屬、食品和化妝品等多個(gè)行業(yè)領(lǐng)域。

·通過智能激發(fā)和檢測設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)高靈敏度

·市場的輕元素性能

·確保X射線安全

·*的數(shù)據(jù)可追溯性

·符合法規(guī)

·無需人為干預(yù)的批量分析

·在線支持

·高度靈活的分析工具，適用于各種應(yīng)用場合