原位機(jī)械性能測試

使用原位的壓縮，拉伸和溫度樣品平臺(tái)，可以在掃描室內(nèi)部實(shí)現(xiàn)機(jī)械性能實(shí)驗(yàn)。通過這種方式，樣品的結(jié)構(gòu)與力學(xué)性能之間的相關(guān)性就可以得到更詳細(xì)的研究。

Bruker的XRM可提供高達(dá)4.4kN的機(jī)械測試平臺(tái)和原位溫度控制樣品臺(tái)，溫度可從室溫下40℃到攝氏85度。

使用MTS3加壓平臺(tái)原位加載Noyant石灰?guī)r樣品

SKYSCAN 1275 - 10微米體素尺寸

孔徑分布(微米)                                           顆粒尺寸分布(微米)

Bentheim砂巖的孔徑（左）和顆粒（右）尺寸分布

SKYSCAN 1275 - 5微米體素尺寸

定量分析地質(zhì)材料的結(jié)構(gòu)特性

XRM可以進(jìn)行結(jié)構(gòu)參數(shù)的3D定量分析，比如孔隙度，粒度，功能定位以及局部厚度。所有這些參數(shù)都可以通過Bruker XRM自主研發(fā)的軟件工具進(jìn)行計(jì)算和直觀的查看。

Bentheim砂巖經(jīng)歷4個(gè)潤濕/蒸發(fā)的循環(huán)過程，在內(nèi)部和外部鹽殼層形成過程的可視化

SKYSCAN1275 - 5微米體素尺寸

動(dòng)態(tài)過程的成像和分析

XRM可以用于跟蹤動(dòng)態(tài)過程。緩慢的變化過程可以通過掃描不同穩(wěn)定狀態(tài)下的樣品來監(jiān)控（延時(shí)CT），快速的變化過程可以通過快速掃描即將掃描獲取時(shí)間降至65秒來研究（實(shí)時(shí)CT）。

如有必要，不同時(shí)間所獲取的同一樣品的數(shù)據(jù)集可以通過3D圖像分析軟件DataViewer得到精準(zhǔn)的對齊。

Vosges砂巖樣品上高分辨率切片

0.3微米體素尺寸

使用 SKYSCAN2211  20微米體素尺寸掃描大的石灰?guī)r巖心

覆蓋多種長度范圍的成像和分析

使用Bruker XRM，對于小尺寸樣品的真實(shí)空間分辨率可以達(dá)到500nm，從而使巖石和沉積物樣本的孔隙度特征得以在小的細(xì)節(jié)上得到表征。

使用同樣的設(shè)備，直徑高達(dá)20cm的大樣品可以在較低分辨率下分析。而長尺寸樣品的掃描可以根據(jù)旋轉(zhuǎn)軌跡自動(dòng)拼接多個(gè)掃描完成，或者通過螺旋掃描來實(shí)現(xiàn)。

Micro-CT - micro-XRF 40mm直徑地質(zhì)巖心的混合物組成分布

Micro-CT: SKYSCAN 2211 - 25微米體素尺寸，micro-XRF: Burker M4 Tornado

無比的兼容性

XRM的數(shù)據(jù)可以和Bruker其他成像技術(shù)比如微區(qū)XRF或者掃描電鏡-能譜儀相結(jié)合。此外，其他方法，比如壓汞孔隙度分析法和X-射線衍射來實(shí)現(xiàn)完整的結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分表征。

使用Bruker XRM的Dataviewer軟件，通過不同方式得到的圖像可以在合成3D。得到的結(jié)果數(shù)據(jù)可以通過CTVox的體積渲染軟件包實(shí)時(shí)直接地查看。

使用不同模式獲得的圖像可以在3D中對齊。使用體繪制包CTVOX，可以同時(shí)顯示結(jié)果數(shù)據(jù)

SKYSCAN 1272 - 高分辨臺(tái)式XRM

• 11或16 MP 大尺寸CCD探測器

• 小像素尺寸低至0.35微米

• 每張切片圖片高達(dá)200MP像素

• InstaRecon-世界上快的重構(gòu)算法

• 16位樣品切換進(jìn)樣位置

SKYSCAN 1275-快速自動(dòng)臺(tái)式micro-CT

• 低至4微米的像素尺寸精度

• 一鍵式按鈕控制的自動(dòng)化操作

• 樣品尺寸可達(dá)96mm(直徑) X 200mm(高度)

• 高度精確的螺旋重構(gòu)掃描

• 16位樣品切換進(jìn)樣位置

SKYSCAN 原位測試平臺(tái)

• 壓力高可達(dá)4400N

• 大拉伸力可達(dá)440N

• 可降溫至室溫下40℃

• 可加熱高至85℃

備注：文章和圖片由Bruker提供